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1 CVD CVD Deposi Deposição Qu ão Quí mica de Vapor mica de Vapor Prof. Jos Prof. José Humberto Dias da Silva Humberto Dias da Silva POSMAT POSMAT – Unesp/Bauru Unesp/Bauru I – Motivação e Aplicações 2 Deposição Química de Vapor 3 I.1 - Introdução PVD – Deposição Física de Vapor Physical Vapor Deposition” CVD – Deposição Química de Vapor Chemical Vapor Deposition” 4 PVD Condensação de vapor

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CVDCVDDeposiDeposiçção Quão Quíímica de Vapor mica de Vapor

Prof. JosProf. Joséé Humberto Dias da SilvaHumberto Dias da Silva

POSMAT POSMAT –– Unesp/BauruUnesp/Bauru

I – Motivação e Aplicações

2

Deposição Química de Vapor

3

I.1 - Introdução

�PVD – Deposição Física de Vapor“Physical Vapor Deposition”

�CVD – Deposição Química de Vapor“Chemical Vapor Deposition”

4

PVDCondensação de vapor

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CVD – Reação química na superfície

Ex: oxidação

VANTAGENS DO CVD

• Filmes de alta qualidade (estrutural/eletrônica)

• Taxas de deposição maiores que evaporação ou sputtering

• Controle de estequiometria relativamente fácil

• Facilidade de dopagem6

VANTAGENS DO CVD

• Produção em grandes áreas / várias amostras

• Simplicidade do sistema de bombeamento (p ~ atm)

• Objetos de forma complexa podem ser recobertos

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DESVANTAGENS \ PROBLEMAS

• Cinética das reações complicada• Uso de fontes térmicas / contaminação• T altas => restrição dos substratos• Gases reativos, tóxicos e corrosivos

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DESVANTAGENS \ PROBLEMAS

• Alguns reagentes caros (metalorgânicos)

• Cuidados com homogeneidade/uniformidade

• Deposições em regiões internas

CVD - Aplicações

�Transistores MOS à base de Si p/ microeletrônica

�Lasers à base de GaAs�LEDs e lasers azuis à base de GaN�Nitretos de Si para camadas isolantes de

transitores de monitores de tela plana�Endurecimento de superfícies – filmes tipo

diamante e carbetos

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Aplicações: transistor MOS

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•• Variados Tipos de Filmes Finos Utilizados Variados Tipos de Filmes Finos Utilizados na Fabricana Fabricaçção de CIs.ão de CIs.

Chemical Vapor Deposition

Aplicação de filmes finos dielétricos em circuitos CMOS.

PD – passivation dielectric

ILD – interlayer dielectric

IMD – intermetal dielectric

PMD – premetal dielectric

USG – undoped silicate glass

BPSG – borophosphosilicate glass

ARC – antireflection coating

• Conexão das regiões ativas dos dispositivos.

• Comunicação entre os dispositivos.

• Acesso externo aos circuitos.

• Isolação entre as camadas condutoras.

• como fonte de dopante e como barreira para dopagem.

• para proteger as superfícies do ambiente externo.

•• AplicaAplicaçções dos Filmes Finos:ões dos Filmes Finos:

Chemical Vapor Deposition

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CVD

• Equipamento mais simples

• Quase mesmo grau de controle que MBE

• Vários substratos por crescimento

Detalhes do CVD

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� CVD – Processos Químicos

Filme => Produto de ReaFilme => Produto de Reaçção Quão Quíímicamica

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Adsorção (fisisorção) ↔↔↔↔ Ligação (quimisorção)22

Reator Simples

Yu-Cardona

23

Forma de reatores (Si)

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II – Exemplos de Reações

Deposição de Vapor Químico

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ExemplosMonoatômicos =

Óxidos =

Nitretos =

Carbetos =

26Reaçoes no Quadro

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I- Introdução

II – Exemplos de Reações

III- Termodinâmica / reações

IV- Solução de problemas práticos

V- Conclusões 28

III – Termodinâmica e Reações Químicas

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Ao relento....

Oxida mais ou sai o óxido ? 30

�O que diz se uma reação pode ou não ocorrer espontaneamente?

�R: Espontânea se a G dos produtos for menor do que a G dos reagentes!

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Termodinâmica de materiais

TSHG −=

Energia livre de Gibbs

E - Energia

S – Entropia

T - Temperatura

EntalpiaPVEH +=

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Produtos

∆GaA + bB

cC + dD

ReagentesEa

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Termodinâmica de materiais

TSHG −=

if GGG −=∆

STHG ∆−∆=∆

Delta G menor que zero => minimiza G => favorece reação/ formação

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Reações Químicas

cCbBaA ↔+

BAC bGaGcGG −−=∆

)ln( i

o

ii aRTGG +=

ai = atividade da espécie i = concentração termodinâmica específicaEx:

cc

C Ca ][=

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+∆=∆

b

B

a

A

c

Co

iaa

aRTGG ln

=∆b

eqB

B

a

eqA

A

c

eqC

C

a

a

a

a

a

a

RTG

)()(

)(ln

1)(

>eqi

i

a

a=> supersaturação da espécie i 1

)(

<eqi

i

a

a=> subsaturação da espécie i

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CVD

III – Reação favorável / desfavorável?

rDpCnBmA +→+

RTG

nm

rp

eBA

DCK

∆−

=

=

].[][

].[][

altaprobKG _.1,0 ⇒>><<∆

baixaprobKG _.1,0 ⇒<<>>∆

)(1,0 ↔⇒≅≅∆ reversívelKG

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IV Dificuldades, complexidade

esolução de problemas práticos

Pirólise do SiH4

SiH4(g) => Si(s) + 2H2(g)

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Cinética da reação de deposição de Si

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O caminho mais rápido domina e a etapa mais lenta limita a taxa da reação

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Fluxo de gás / Inomogeneidades

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Distribuição de velocidades nas proximidades do susceptor (porta substratos).

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+ complexidade : esquema de um reator real

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O que posso fazer para resolver problemas de homogeneidade

nos filmes produzidos por CVD ?

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CVD assitido por plasma (PECVD) • Cilíndrico – fluxo radial / dep. de Si3N4

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Linhas de fluxo de

gás / simetria

axial

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Pensar ... e ser criativo...

Ou investir $$$...

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Reator comercial(www.aixtrom.com)

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Reator complexo (comercial)

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Comercial:

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Veeco - D180 GaN MOCVD System

Exceptional GaN material development and productionGet proven advantages for the growth of advanced GaN-based devices, including UV LEDs, blue spectrum lasers and FETs -- and meet the challenges of Al-containing compounds --with the Veeco Discovery D180 GaN. It's ideally suited to provide fast growth rates for quality GaN deposition and provides stable growth chamber conditions from run-to-run with minimal build-up of deposits above wafers. The D180 GaN optimizes repeatability with integrated RealTemp® 200 in-situ wafer temperature measurement.

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Reator horizontalcomercial

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Reator PECVD - Wikipedia

PECVDlab

Monitoramento

in situ

�Elipsometria

[Parâmetros Reator Aixtron CVD – JKU – Austria, DMG Leite, Tese DR]

Exemplo: CVD - elipsometria

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Reflexão da onda no filme Elipsometria

Intensidades e fases das ondas refletidas p e s=> determina h, n e k

Precisão de alguns nm na espessura

sp EEErrr

+=

−+= r

ntEE

o

kkkλ

πδω

~2cos0

rr

Superposição das ondas polarizadas incidentes

Intensidades e fases da onda refletida

Finalizando

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CVD – Conclusões /Resumo

I - Pressões próximas da atmosférica

�Simplifica bombeamento�Reator simples (?!)�Baixo “sticking” (Sc)�Pode cobrir superficies complexas/rugosas

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CVD – Conclusões /Resumo

II – Uniformidade da deposição depende das uniformidades de:

- Fluxo de gás- Temperatura ( Grad(T(r))~0).

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CVD – Conclusões /Resumo

III – Reação favorável =>

0<<∆G

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CVD – Conclusões /Resumo

IV - Cinética de reação pode ser complexa

- Depende de produtos intermediários

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CVD - Resumo

V – Altas temperaturas de substrato

�Pode excluir alguns materiais �Para contornar / otimizar

�Precursores metalorgânicos M-(CH3)n – MOCVD�Deposição assistida por plasma – PECVD ( plasma

usado para “quebrar” moléculas).

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CVD - Resumo

VI – Controle in situ da deposição

�Elipsometria �Precisão: algumas camadas atômicas

(centésimos do comprimento de onda usado)

Deposição de Vapor Químico - Resumo

� Complexidade� Muitos fenômenos simultâneos

� Fase gasosa – convecção forçada & livre- reação homogênea (no gás)- difusão

� Reator� Desenho e operação apropriados

� controle dos fenômenos� separação de regimes espaciais para modelagem� Estabilidade de taxa de deposição e química de superfície

� Bombeamento simples� Talta – limitante. Soluções: PECVD, MOCVD� Controle in situ por elipsometria (20 nm↑)

� Filmes� Baixo Sc dos gases� Cobertura de superfícies com relevo ou porosas� Grandes quantidades e formas complexas � Controle da estequiometria e homogeneidade composicional

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• http://www.timedomaincvd.com• http://www.aixtron.com

BibliografiaSmith – Cap. 7

Alguns sites de interesse

Ohring – Caps. 1 e 4

Notas de aula – prof. Mário Bica de Moraes (Unicamp).

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• Final – CVD

Prof. JosProf. Joséé Humberto Dias da SilvaHumberto Dias da SilvaPOSMAT POSMAT –– Unesp/BauruUnesp/BauruVersão CVD_2011_Versão 04Versão CVD_2011_Versão 04

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Exercício: Filmes Epitaxiais de Si

Filmes epitaxiais de Si podem ser obtidos por redução com H2, ou por pirólise de tetracloreto de Si, silano, ou de clorosilanos (SiCl4). Pelo cálculo da energia livre de Gibbs encontrar em quais destes compostos pode ser aplicado o método pirolítico para precipitação de Si a 1.500 K. Trabalhar com todas as reações indicadas na tabela 5.1 e usar como referência os dados da tabela 5.2.

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tabelas / exemplo