Experimento 2

Muestreo y Retención (Muestreo de Techo Plano)

2.1 Arme el circuito de muestreo y retención, conecte a la entrada una onda sinusoidal de 1khz a 1vpp y fije el pulsador de muestreo en 10khz, 20us.

Repita la misma medición para otros valore del capacitor de almacenamiento

1 nf

100 nf

2.2 Conecte un filtro pasa bajos a la salida del circuito.

1 nf

100 nf

2.3 Medición de la distorsión de la señal reconstruida

Fije en f1 la frecuencia de la onda de entrada, 1vrms, conecte la salida del FPB a la entrada del separador de S/N

Repita las mediciones para distintas velocidades de muestreo (1nf)

10khz

6 khz

5 khz

2.4repita las mediciones para otro valor de capacitor integrador (100nf)

10 khz

6 khz

5 khz

2.5 fije la señal de entrada en f2 y repita las mediciones de las secciones anteriores

100 nf

10khz

6 khz

5 khz

1 nf

10 khz

6 khz

5 khz

2.6Circuito de Muestreo y Retención con separadores

Conecte a la entrada una onda sinusoidal de 1khz, 1vpp, y fije el pulsador de muestreo en 10 khz, 20 us. Esto es PAM de techo plano

100 nf

10 nf

2.7 Mediciones de Distorsión

Repita las mediciones 2.3, 2.4 y 2.5

Salida del Separador para señal de entrada en f1 y capacitor integrador 1 nf

10 khz

6 khz

5 khz

Salida del Separador para señal de entrada en f1 y capacitor integrador 100 nf

10 khz

6 khz

5 khz

Salida del Separador para señal de entrada en f2 y capacitor integrador 1 nf

10 khz

6 khz

5 khz

Salida del Separador para señal de entrada en f2 y capacitor integrador 100 nf

10 khz

6 khz

5 khz