1. CAPACIDAD Y HABILIDAD DEL PROCESO. Materia: Control
Estadstico del Pr oceso. Pr of esor : Edgar G ar do M a er at O t i
z. r Alumna: Lizandra Ayari Rodrguez O t i z. r1 G ado: 3 r
2. Process capability CP Cp. quiere decir Capacidad del Proceso
(Process Capability)La capacidad a la que nos referimos es la que
tiene el proceso para producir piezas de acuerdo con las
especificaciones, es decir, dentro de los lmites de tolerancia
establecidos. Para evaluar la capacidad de un proceso es necesario
contar con suficientes muestras, por lo que el clculo del Cp. se
encuadra dentro de un estudio estadstico.2
3. 3
4. 4
5. Process Capability ndex CPK El ndice de capacidad del
proceso, Cpk, tambin denominado ratio de capacidad del proceso, es
un clculo estadstico sobre la capacidad del proceso: La capacidad
de un proceso para producir un resultado dentro de unos lmites
predefinidos (TS, tolerancia superior y TI, tolerancia inferior).
El concepto de capacidad del proceso es solo vlido para procesos
que estn sometidos a control estadstico. Este ndice juega un papel
fundamental en las plantas de produccin a la hora de demostrar que
un proceso (ej. de produccin de tornillos) es fiable y est bajo
control.5
6. 6
7. 7
8. Process performance PP Es una estimacin de la capacidad de
un proceso en su configuracin inicial, antes de que se ha puesto en
un estado de control estadstico. El proceso de rendimiento Pp y Ppk
se calculan de la misma manera que Cp y Cpk, excepto que la
desviacin estndar se calcula utilizando el mtodo RMSE no el mtodo
RANGE. FORMULA: Pp= (USL-LSL) 68
9. Process Performance ndex PPK. En el mbito de la mejora de
procesos el ndice de prestacin del proceso es un valor estimado de
la capacidad del proceso de un proceso durante su fase inicial,
antes de que sea sometido a un control estadstico. Si los lmites
superior e inferior de la especificacin del proceso son TI,
tolerancia inferior (en ingls LSL, Lower Specification Level) y TS,
tolerancia superior (en ingls USL, Upper Specification Level), la
media estimada del proceso es , y la variabilidad estimada del
proceso es , el ndice de prestacin del proceso se define
como:9
10. Interpretacin Valores elevados de Ppk pueden interpretarse
para indicar que un proceso es ms capaz de producir resultados
dentro de los lmites especificados, si bien esta interpretacin no
es aceptada por muchos. Realmente, desde un punto de vista
estadstico, Ppk no es significativo si el proceso en estudio no est
bajo control, porque si no puede estimarse el proceso bajo una
distribucin probabilstica, menos aun parmetros como y . Adems, usar
esta medida basada en la prestacin del proceso en el pasado para
predecir la prestacin futura es muy desaconsejable. Desde el punto
de vista del management, cuando una organizacin est bajo presin
para establecer un nuevo proceso de forma rpida y econmica, Ppk es
una medida conveniente para comprobar la progresin alcanzada en un
intervalo determinado de tiempo (si Ppk crece, se interpreta como
que la capacidad del proceso est mejorando)10
11. Relacin de estas medidas con el nivel de calidad sigma del
proceso El estudio de capacidad en los procesos de fabricacin adems
de comparar la variabilidad del proceso de las tolerancias
demandadas por el cliente persiguen otros objetivos relacionados
con la seleccin de procesos como evaluar procesos y tomar
decisiones en el rendimiento del proceso. Por ello lo mas econmico
es aprovechar al mximo la capacidad de un proceso inicial de
fabricacin y darle ala pieza el mximo de atributos en una sola
fase, aunque luego debamos completar con otros procesos y
operaciones.11
12. Clculo del nivel de calidad sigma del proceso El sistema de
calidad 6 sigma, viene hacer la implementacin de una tecnologa para
el mejoramiento de procesos y que es manejada por empresas de clase
mundial para la ayuda del desarrollo del proceso. Tiene un objetivo
que es reducir la variabilidad de rendimiento a travs de la mejora
del proceso, y aumentar la especificacin de los limites del cliente
a travs del plan para la productividad, de esa manera los niveles
del defecto deben estar debajo de 3.4 defectos por millones de
oportunidades para un defecto.12