Post on 17-Jan-2020
PATRÓN DE REFERENCIA: MICROMETRO
CERTIFIK
Carta de trazabilidad
Fecha última revisión:
2018-02-09
F-102-03
No. de páginas:
1 de 1
PatronesPrimarios
COPIA NO CONTROLADAPatrones de referencia
CERTIFIK
Patrones deReferencia
CENAM
Patrón primario nacionalde longitud. CNM-PNM-2
Instrumento: Bloques Patron TESA grado K y 00No. de Identificación: No proporcionado.No. de informe: CNM-CC-740-152/2018 Incertidumbre: No disponibleFecha de vencimiento: No disponible
Instrumentos del Cliente
Instrumento: Comparador de Bloques PatronMarca: TESAModelo: 05930015 No. de Identificación: CTK-140No. de informe: CNM-CC-740-334/2018 CENAM)Incertidumbre: ±0,0 056 µmFecha de vencimiento: 2020-07-11
Instrumento: Interferometro láser Marca: NPL-TESAModelo: AGI-1-300Serie: 014Incertidumbre: No especificado
Instrumento: LaserNo. de informe: CNM-CC-740-179/2017Incertidumbre: No especificado
Instrumento: LáserNo. de Identificación: No especificadoNo. de informe: 2017100320-ll03Incertidumbre: No especificado
Unidad de longitud de Inglaterra NPL
Instrumento: Juego de bloques patrónNo. de identificación: CTK-043Marca: MITUTOYOModelo: 516-107Serie: 990901Grado: 1No. de informe: DI-060694-4
Incertidumbre: ±0,052 mm/ ± 2,1 μpulg
Fecha de vencimiento: 2020-04-27
Patrones de referenciaCERTIFIK
Instrumento: Juego de bloques patron No. de Identificación: CTK-398No. de informe: CNM-CC-740-141/2018Marca: MitutoyoModelo: BM1-122-K/YJIncertidumbre: ± 49 nmFecha de vencimiento: 2020-04-06
Instrumento: MicrometroNo. de identificación: CTK-441Marca: BAKERModelo: DMM25Serie: 160200291No. de informe: DI-061111-4
Incertidumbre: ±1,5 mm/ ± 59 μpulg
Fecha de vencimiento: 2020-05-27
Instrumentos de CERTIFIK