Post on 26-Sep-2018
¿Qué contiene el PM2.5?
Muestra 1 Muestra 2
Método convencional
Muestreo Reemplazo de Filtro Pretratamiento Análisis
1. Gran coste humano y tiempo
2. Dificultad de captar la tendencia
3. Desviación de medida en campo + laboratorio
¿Cómo se determina el contenido de PM2.5?Método tradicional
Componente Método FiltroComponente Iónico Cromatografía iónica PTFE
Elementos Inorgánicos ICP-MS o XRF PTFE
Hidrocarburos Aromáticos Policíclicos HPLC o GC-MS PTFE
Carbono elementalCarbono orgánico
Método Térmico/Óptico Filtro de Cuarzo
Componente iónicoElementos inorgánicos
Carbono elementalCarbono orgánico
Estudios de determinación de fuentes
¿Por qué se ha desarrollado el PX-375?
Características• Gran coste humano y de tiempo• Dificultad para captar la tendencia• Desviación por pretatamiento
Soluciones• Medida continua de PM y de Elementos• Software de Adquisición de Datos y función remota• Determinación del Color y la Forma de la partícula mediante la cámara interna
Medida en continuo de PM & Análisis ElementalCon una Unidad Compacta
Cabezal de toma de muestra(TSP, PM10, PM2.5)
Unidad de condensados
Unidad Principal– Atenuación Beta & XRF Fuente de identificación de X-ray
Dimensiones: 450(w)x550(l)x 285(h) : mm Peso: Aprox 30Kg
Medida en continuo de PM & Análisis ElementalCon una Unidad Compacta
Análisis Elemental < XRF >
Análisis de Concentración <Rayos Beta >
Vista interna
Elementos detectables
Límite de Detección
* Límite de Detección es 2 sigma * Sigue el método EPA IO 3.3
ng/cm2
Experimento de verificaciónComparación con ICP-MS por un tercero cualificadoCorrelación positiva Confirmada
Tiempo de muestreo: 1hour Voltaje X-ray : 15/50 kV Corriente X-ray: 200 mA Elemento objetivo: PdTiempo de análisis: 1000 s
*PX-375 :Calibración realizada con NIST SRM 2783*ICP-MS :Fujitsu Quality Lab
Los factores de correlación no dependen del material de referencia
Baja concentración & Alta sensibilidaddGracias a la nueva cinta filtrante desarrollada
Valores cuantitativos del filtro original
Comparación con el espectro de Rayos X
Promedio, Promedio±SD de 5 medidas<LOD :Li,B,K,Ti,V,Cr,Ni,Cu,Zn,Ga,Ge,As,Se,Sr,Y,Zr,Mo,Ag,Cd,Sb,Cs,Ba,La,Ce,W,PbLOD<LOQ : Italica
Componente iónico: Metrohm IC 850Elemento inorgánico: Agilent Technologies 7700x
Operación y Muestra de datos sencillo
Facilidad para tener el resultado y comparar el PM y Elemento
Progreso de las
medidasTendencia de PM
Resultados previosTendencia de elementos
Funciones
Análisis de PM
Resultados de Medida Análisis de Imagen
Análisis elemental
Variación temporal de la masa y de la concentración elemental