PATRÓN NACIONAL DE LONGITUD CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO
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PATRÓN NACIONAL DE LONGITUD CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO MITUTOYO LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: D-45 kglm METROLOGÍA LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: T–86 H-14 TERMO HIGRÓMETRO INF: K MT 100910 K MH 1010-10 VENCE: AGT - 12 INC: ± 0,49°C ±2,7 % HR Elaboró: José Luis Merlo Cazares Gerente de Laboratorio Fecha de Elaboración: Marzo 2012 Fecha de Vencimiento: Abril 2012 PATRÓN NACIONAL DE TEMPERATURA CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO C A L I B R A C I O N I N S T R U M E N T A L E X A C T A L A B O R A T O R I O D E C A L I B R A C I O N A C R E D I T A C I O N D – 6 3 CARTA DE TRAZABILIDAD DIMENSIONAL (INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN) BLOQUES PATRÓN INF: 110107 VENCE: DIC-12 INC: ± 0,08; 0,15 µm REGLA DE CRISTAL INF: 112001 VENCE: OCT-13 INC:± 2,0 µm INF: 112216 VENCE: DIC-13 INC: ± 3,5 µm MAQUINA DE MEDICIÓN POR COORDENADAS INF: 100445 - 100446 VENCE: DIC-12 INC: ± 3,26 µm DISPOSITIVO DE MEDICIÓN DE LONGITUD INF: CNM-CC-740- 466/2011 VENCE: OCT-13 INC: ±(14+0,0021l) µm ESCALA DE CRISTAL INF: CNM-CC-740- 257/2011 VENCE: JUN-13 INC: ± √(0,39+2,6*10 - 5 *L 2 ) µm ANILLOS PATRÓN LISOS INF: CNM-CC-740- (478-479)/2011 VENCE: OCT-13 INC: ± 0,2 µm INF: CNM-CC-740- (434-435)/2009 VENCE: OCT-12 INC: ± 0,3 µm RETÍCULA DE ÁNGULOS INF: CNM-CC-740- 080/2012 VENCE: FEN-15 INC: ± 1’ (DE ARCO) CIE LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: D-63 Cuenta metros (odómetros) SEPRI LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: D-39 TACÓMETRO INF: TF-289-2010 VENCE: ABR-12 INC: ± 0,058 r/min INF: 110440 VENCE: AGT-13 INC: ± 0,13 µm PATRÓN NACIONAL DE TIEMPO Y FRECUENCIA CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO MAQUINA UNIDIMENSIONAL INF: CNM-CC-740- 465/2011 VENCE: OCT-13 INC: ± (0,09+0,003L) µm PATRÓN DE RUGOSIDAD INF: CNM-CC-740- 096/2012 VENCE: MZO-14 INC: ± 0,013 µm PLANO ÓPTICO INF: CNM-CC-740- 352/2005 VENCE: PERMANENTE INC: ± 0,000 9 µm BLOQUES PATRÓN ANGULARES INF: CNM-CC-740- 263/2011 VENCE: JUN -14 INC: ± 2,0’ PLANTILLA DE AMPLIFICACIÓN INF: CNM-CC-740- 095/2002 VENCE: PERMANENTE INC: ± 0,0008 mm CIO LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: D-85 PARALELAS ÓPTICAS INF: CIO-IC-563/2009 VENCE: PERMANENTE INC: ± 0,02 µm ACCESORIOS BLOQUES PATRÓN INF: 110357 VENCE: JUN-13 INC: ± (0,08+0,0011L) µm INF: 110568 - 110569 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,08+0,0011L) µm ANILLOS PATRÓN LISOS INF: 101731 VENCE: JUL-12 INC: ±(0,2+0,0025L) µm INF: 112463 – 112488 VENCE: OCT-13 INC: ± (0,2+0,0025L) µm 122750 - 112758 VENCE: OCT-13 INC: ± (0,2+0,0025L) µm INF:111973 - 111975 VENCE: AGT-13 INC: ±(0,2+0,0025L) µm MAESTRO DE LONGITUD FIJA INF: 112819 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,3+0,005L) µm COMPARADOR ÓPTICO INF: 110953 - 110954 VENCE: ABR-12 INC: ± (0,9+0,016L)µm ± 2,78´ ± 0,054 % ESCUADRA INF: 100395 VENCE: OCT-12 INC: ± (3,0+0,008L) µm BLOQUES PATRÓN INF: 110956 - 110957 VENCE: ABR-13 INC: ± 0,15 µm INF: 112820 VENCE: NOV-13 INC: ± 0,05 µm INF: 112821 - 112822 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,05+0,0009L)µm INF: 112571 VENCE: OCT-13 INC: ±(0,05+0,0009)µm INF: 110600 VENCE: FEB-13 INC: ± 0,15 µm INF: 113527 VENCE: ENE-14 INC: ± (0,05+0,0009L) µm INF: 11946 - 11948 VENCE: AGT-13 INC: ± 0,04 µm INF: 120521 - 120523 VENCE: ABR-14 INC: ± 0,04 µm MESA DE SENOS INF: 112831 VENCE: NOV-13 INC: ± 0,26 µm INDICADOR DIGITAL INF: 112491 VENCE: OCT-13 INC: ± (0,4+0,01L) µm INDICADOR TIPO PALANCA INF: 112831 VENCE: NOV-13 INC: ± 0,26 µm MESA DE PLANITUD INF: 112823 - 112824 VENCE: NOV-13 INC: ± (3,4+0,001L)µm PALPADORES INDUCTIVO INF: 112825 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,14+0,012) µm INF: 112827 VENCE: NOV-13 INC: 0,22 µm PATRONES DE ESPESORES INF: 110579 VENCE: NOV-13 INC:±(0,08+0,0011L) µm PATRÓN DE PROFUNDIDADES INF: 112837 VENCE: NOV-13 INC: ± (0,5+0,003L) µm TACÓMETRO INF: 110440 VENCE: AGT-13 INC: ± 0,13 µm Comparadores Ópticos Microscopios de Medición Medición con Máquina de Medición por Coordenadas Medición con Comparador Óptico Medición con Máquina Unidimensional Calibración Vertical de Longitudes Lainas de Espesores Micrómetros de Exteriores Medidores de Interiores 2 Superficies de Contacto Medidores de Interiores 3 Superficies de Contacto Micrómetros y Medidores de Profundidades Cabezas Micrométricas Calibradores Medidores de Alturas Rugosímetros Niveles de Burbuja y Electrónicos Indicadores de Vástago Recto Palpadores Inductivos Indicadores de Carátula Tipo Palanca Palpadores Inductivos Tipo Palanca Goniómetros y Medidores de Ángulos Medidores de Espesores de Recubrimiento Medidores de Espesores Magnéticos Medidores de Espesores con Indicador Reglas Graduadas Flexómetros y Cintas de Medición
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PATRÓN NACIONAL DE LONGITUDCENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA
LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO
MITUTOYOLABORATORIO SECUNDARIO
ACREDITACIÓN: D-45
kglm METROLOGÍALABORATORIO SECUNDARIO
ACREDITACIÓN: T–86 H-14
TERMO HIGRÓMETROINF: K MT 100910
K MH 1010-10VENCE: AGT - 12
INC: ± 0,49°C±2,7 % HR
Elaboró:
José Luis Merlo CazaresGerente de Laboratorio
Fecha de Elaboración: Marzo 2012Fecha de Vencimiento: Abril 2012
PATRÓN NACIONAL DE TEMPERATURACENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA
LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO
C A L I B R A C I O N I N S T R U M E N T A L E X A C T A L A B O R A T O R I O D E C A L I B R A C I O N
A C R E D I T A C I O N D – 6 3
CARTA DE TRAZABILIDAD DIMENSIONAL (INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN)
BLOQUES PATRÓNINF: 110107VENCE: DIC-12
INC: ± 0,08; 0,15 µmREGLA DE CRISTAL
INF: 112001VENCE: OCT-13INC:± 2,0 µmINF: 112216VENCE: DIC-13INC: ± 3,5 µmMAQUINA DE
MEDICIÓN POR COORDENADAS
INF: 100445 - 100446VENCE: DIC-12INC: ± 3,26 µm
DISPOSITIVO DE MEDICIÓN DE
LONGITUDINF: CNM-CC-740-
466/2011VENCE: OCT-13
INC: ±(14+0,0021l) µmESCALA DE CRISTALINF: CNM-CC-740-
257/2011VENCE: JUN-13
INC: ± √(0,39+2,6*10-
5*L2) µmANILLOS PATRÓN
LISOSINF: CNM-CC-740-
(478-479)/2011VENCE: OCT-13INC: ± 0,2 µm
INF: CNM-CC-740-(434-435)/2009VENCE: OCT-12INC: ± 0,3 µmRETÍCULA DE
ÁNGULOSINF: CNM-CC-740-
080/2012VENCE: FEN-15
INC: ± 1’ (DE ARCO)
CIELABORATORIO SECUNDARIO
ACREDITACIÓN: D-63
Cuenta metros (odómetros)
SEPRILABORATORIO SECUNDARIO
ACREDITACIÓN: D-39
TACÓMETROINF: TF-289-2010
VENCE: ABR-12INC: ± 0,058 r/min
INF: 110440VENCE: AGT-13INC: ± 0,13 µm
PATRÓN NACIONAL DE TIEMPO Y FRECUENCIA
CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍALABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO
MAQUINA UNIDIMENSIONALINF: CNM-CC-740-
465/2011VENCE: OCT-13
INC: ± (0,09+0,003L) µm
PATRÓN DE RUGOSIDAD
INF: CNM-CC-740-096/2012
VENCE: MZO-14INC: ± 0,013 µmPLANO ÓPTICO
INF: CNM-CC-740-352/2005
VENCE: PERMANENTEINC: ± 0,000 9 µm
BLOQUES PATRÓN ANGULARES
INF: CNM-CC-740-263/2011
VENCE: JUN -14INC: ± 2,0’
PLANTILLA DE AMPLIFICACIÓN
INF: CNM-CC-740-095/2002
VENCE: PERMANENTEINC: ± 0,0008 mm
CIOLABORATORIO SECUNDARIO
ACREDITACIÓN: D-85
PARALELAS ÓPTICASINF: CIO-IC-563/2009VENCE: PERMANENTE
INC: ± 0,02 µm
ACCESORIOS BLOQUES PATRÓN
INF: 110357VENCE: JUN-13
INC: ± (0,08+0,0011L) µm
INF: 110568 - 110569VENCE: NOV-13
INC: ± (0,08+0,0011L) µm
ANILLOS PATRÓN LISOS
INF: 101731VENCE: JUL-12
INC: ±(0,2+0,0025L) µm
INF: 112463 – 112488VENCE: OCT-13
INC: ± (0,2+0,0025L) µm
122750 - 112758VENCE: OCT-13
INC: ± (0,2+0,0025L) µm
INF:111973 - 111975VENCE: AGT-13
INC: ±(0,2+0,0025L) µm
MAESTRO DE LONGITUD FIJA
INF: 112819VENCE: NOV-13
INC: ± (0,3+0,005L) µmCOMPARADOR
ÓPTICOINF: 110953 - 110954
VENCE: ABR-12INC: ± (0,9+0,016L)µm
± 2,78´± 0,054 %
ESCUADRAINF: 100395
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BLOQUES PATRÓNINF: 110956 - 110957
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VENCE: AGT-13INC: ± 0,04 µm
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MESA DE SENOSINF: 112831
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INDICADOR DIGITALINF: 112491
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INDICADOR TIPO PALANCA
INF: 112831VENCE: NOV-13INC: ± 0,26 µm
MESA DE PLANITUDINF: 112823 - 112824
VENCE: NOV-13INC: ± (3,4+0,001L)µm
PALPADORES INDUCTIVOINF: 112825
VENCE: NOV-13INC: ± (0,14+0,012) µm
INF: 112827VENCE: NOV-13
INC: 0,22 µmPATRONES DE
ESPESORESINF: 110579
VENCE: NOV-13INC:±(0,08+0,0011L)
µmPATRÓN DE
PROFUNDIDADESINF: 112837
VENCE: NOV-13INC: ± (0,5+0,003L) µm
TACÓMETROINF: 110440
VENCE: AGT-13INC: ± 0,13 µm
Comparadores Ópticos
Microscopios de Medición
Medición con Máquina de Medición por Coordenadas
Medición con Comparador Óptico
Medición con Máquina Unidimensional
Calibración Vertical de Longitudes
Lainas de Espesores
Micrómetros de Exteriores
Medidores de Interiores 2 Superficies de Contacto
Medidores de Interiores 3 Superficies de Contacto
Micrómetros y Medidores de Profundidades
Cabezas Micrométricas
Calibradores
Medidores de Alturas
Rugosímetros
Niveles de Burbuja y Electrónicos
Indicadores de Vástago Recto
Palpadores Inductivos
Indicadores de Carátula Tipo Palanca
Palpadores Inductivos Tipo Palanca
Goniómetros y Medidores de Ángulos
Medidores de Espesores de Recubrimiento
Medidores de Espesores Magnéticos
Medidores de Espesores con Indicador
Reglas Graduadas
Flexómetros y Cintas de Medición
