PATRÓN NACIONAL DE LONGITUDCENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA

LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO

MITUTOYOLABORATORIO SECUNDARIO

ACREDITACIÓN: D-45

kglm METROLOGÍALABORATORIO SECUNDARIO

ACREDITACIÓN: T–86 H-14

TERMO HIGRÓMETROINF: K MT 100910

K MH 1010-10VENCE: AGT - 12

INC: ± 0,49°C±2,7 % HR

Elaboró:

José Luis Merlo CazaresGerente de Laboratorio

Fecha de Elaboración: Marzo 2012Fecha de Vencimiento: Abril 2012

PATRÓN NACIONAL DE TEMPERATURACENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA

LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO

C A L I B R A C I O N I N S T R U M E N T A L E X A C T A L A B O R A T O R I O D E C A L I B R A C I O N

A C R E D I T A C I O N D – 6 3

  CARTA DE TRAZABILIDAD DIMENSIONAL (INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN)

BLOQUES PATRÓNINF: 110107VENCE: DIC-12

INC: ± 0,08; 0,15 µmREGLA DE CRISTAL

INF: 112001VENCE: OCT-13INC:± 2,0 µmINF: 112216VENCE: DIC-13INC: ± 3,5 µmMAQUINA DE

MEDICIÓN POR COORDENADAS

INF: 100445 - 100446VENCE: DIC-12INC: ± 3,26 µm

DISPOSITIVO DE MEDICIÓN DE

LONGITUDINF: CNM-CC-740-

466/2011VENCE: OCT-13

INC: ±(14+0,0021l) µmESCALA DE CRISTALINF: CNM-CC-740-

257/2011VENCE: JUN-13

INC: ± √(0,39+2,6*10-

5*L2) µmANILLOS PATRÓN

LISOSINF: CNM-CC-740-

(478-479)/2011VENCE: OCT-13INC: ± 0,2 µm

INF: CNM-CC-740-(434-435)/2009VENCE: OCT-12INC: ± 0,3 µmRETÍCULA DE

ÁNGULOSINF: CNM-CC-740-

080/2012VENCE: FEN-15

INC: ± 1’ (DE ARCO)

CIELABORATORIO SECUNDARIO

ACREDITACIÓN: D-63

Cuenta metros (odómetros)

SEPRILABORATORIO SECUNDARIO

ACREDITACIÓN: D-39

TACÓMETROINF: TF-289-2010

VENCE: ABR-12INC: ± 0,058 r/min

INF: 110440VENCE: AGT-13INC: ± 0,13 µm

PATRÓN NACIONAL DE TIEMPO Y FRECUENCIA

CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍALABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO

MAQUINA UNIDIMENSIONALINF: CNM-CC-740-

465/2011VENCE: OCT-13

INC: ± (0,09+0,003L) µm

PATRÓN DE RUGOSIDAD

INF: CNM-CC-740-096/2012

VENCE: MZO-14INC: ± 0,013 µmPLANO ÓPTICO

INF: CNM-CC-740-352/2005

VENCE: PERMANENTEINC: ± 0,000 9 µm

BLOQUES PATRÓN ANGULARES

INF: CNM-CC-740-263/2011

VENCE: JUN -14INC: ± 2,0’

PLANTILLA DE AMPLIFICACIÓN

INF: CNM-CC-740-095/2002

VENCE: PERMANENTEINC: ± 0,0008 mm

CIOLABORATORIO SECUNDARIO

ACREDITACIÓN: D-85

PARALELAS ÓPTICASINF: CIO-IC-563/2009VENCE: PERMANENTE

INC: ± 0,02 µm

ACCESORIOS BLOQUES PATRÓN

INF: 110357VENCE: JUN-13

INC: ± (0,08+0,0011L) µm

INF: 110568 - 110569VENCE: NOV-13

INC: ± (0,08+0,0011L) µm

ANILLOS PATRÓN LISOS

INF: 101731VENCE: JUL-12

INC: ±(0,2+0,0025L) µm

INF: 112463 – 112488VENCE: OCT-13

INC: ± (0,2+0,0025L) µm

122750 - 112758VENCE: OCT-13

INC: ± (0,2+0,0025L) µm

INF:111973 - 111975VENCE: AGT-13

INC: ±(0,2+0,0025L) µm

MAESTRO DE LONGITUD FIJA

INF: 112819VENCE: NOV-13

INC: ± (0,3+0,005L) µmCOMPARADOR

ÓPTICOINF: 110953 - 110954

VENCE: ABR-12INC: ± (0,9+0,016L)µm

± 2,78´± 0,054 %

ESCUADRAINF: 100395

VENCE: OCT-12INC: ± (3,0+0,008L) µm

BLOQUES PATRÓNINF: 110956 - 110957

VENCE: ABR-13INC: ± 0,15 µmINF: 112820

VENCE: NOV-13INC: ± 0,05 µm

INF: 112821 - 112822VENCE: NOV-13

INC: ± (0,05+0,0009L)µm

INF: 112571VENCE: OCT-13

INC: ±(0,05+0,0009)µmINF: 110600

VENCE: FEB-13INC: ± 0,15 µmINF: 113527

VENCE: ENE-14INC: ± (0,05+0,0009L)

µmINF: 11946 - 11948

VENCE: AGT-13INC: ± 0,04 µm

INF: 120521 - 120523VENCE: ABR-14INC: ± 0,04 µm

MESA DE SENOSINF: 112831

VENCE: NOV-13INC: ± 0,26 µm

INDICADOR DIGITALINF: 112491

VENCE: OCT-13INC: ± (0,4+0,01L) µm

INDICADOR TIPO PALANCA

INF: 112831VENCE: NOV-13INC: ± 0,26 µm

MESA DE PLANITUDINF: 112823 - 112824

VENCE: NOV-13INC: ± (3,4+0,001L)µm

PALPADORES INDUCTIVOINF: 112825

VENCE: NOV-13INC: ± (0,14+0,012) µm

INF: 112827VENCE: NOV-13

INC: 0,22 µmPATRONES DE

ESPESORESINF: 110579

VENCE: NOV-13INC:±(0,08+0,0011L)

µmPATRÓN DE

PROFUNDIDADESINF: 112837

VENCE: NOV-13INC: ± (0,5+0,003L) µm

TACÓMETROINF: 110440

VENCE: AGT-13INC: ± 0,13 µm

Comparadores Ópticos

Microscopios de Medición

Medición con Máquina de Medición por Coordenadas

Medición con Comparador Óptico

Medición con Máquina Unidimensional

Calibración Vertical de Longitudes

Lainas de Espesores

Micrómetros de Exteriores

Medidores de Interiores 2 Superficies de Contacto

Medidores de Interiores 3 Superficies de Contacto

Micrómetros y Medidores de Profundidades

Cabezas Micrométricas

Calibradores

Medidores de Alturas

Rugosímetros

Niveles de Burbuja y Electrónicos

Indicadores de Vástago Recto

Palpadores Inductivos

Indicadores de Carátula Tipo Palanca

Palpadores Inductivos Tipo Palanca

Goniómetros y Medidores de Ángulos

Medidores de Espesores de Recubrimiento

Medidores de Espesores Magnéticos

Medidores de Espesores con Indicador

Reglas Graduadas

Flexómetros y Cintas de Medición