PROYECTO DE NORMA MEXICANA PROY NMX-R-80004-6-SCFI …

PROY-NMX-R-80004-6-SCFI-2015

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PROYECTO DE NORMA MEXICANA

PROY NMX-R-80004-6-SCFI-2015

Nanotecnologías - Vocabulario – Parte 6: Caracterización

de nano-objetos

Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization


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PREFACIO

Este Proyecto de Norma Mexicana fue elaborado por el Comité Técnico de Normalización

Nacional en Nanotecnologías.

En la elaboración del presente Proyecto de Norma Mexicana participaron especialmente

las empresas e instituciones siguientes:

Centro de Investigación en Materiales Avanzados, S. C.

Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del Instituto Politécnico Nacional

Centro Nacional de Metrología

Instituto Mexicano del Petróleo

Micra Nanotecnología, S. A. de C. V.

Universidad Autónoma Metropolitana – Unidad Xochimilco

Universidad Juárez Autónoma de Tabasco

Este Proyecto de Norma Mexicana es idéntico a la Especificación Técnica ISO/TS 80004-

6:2013 Nanotechnology – Vocabulary –Part 6: Nano-object characterization, salvo lo que

se aclara en las Notas Explicativas Nacionales contenidas en el mismo.

Una Especificación Técnica es un documento publicado por ISO o IEC que tiene la

posibilidad de convertirse en una Norma Internacional a futuro, pero que hasta el momento

no ha alcanzado el consenso requerido para su aprobación como tal.

Nota 1: El contenido de una Especificación Técnica, incluyendo sus anexos, puede incluir

requisitos.

Nota 2: Una Especificación Técnica no puede estar en conflicto con una Norma

Internacional existente.

Nota 3: Se permite la coexistencia de Especificaciones Técnicas sobre la misma materia.


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PREFACIO DE LA NORMA INTERNACIONAL

ISO (la Organización Internacional de Normalización) es una federación mundial de organismos nacionales de normalización (organismos miembros de ISO). El trabajo de preparación de las Normas Internacionales normalmente se realiza a través de los comités técnicos de ISO. Cada organismo miembro interesado en un tema para el cual se haya establecido un comité técnico, tiene el derecho de estar representado en ese comité. Las organizaciones internacionales, públicas y privadas, en coordinación con ISO, también participan en el trabajo. ISO colabora estrechamente con la Comisión Electrotécnica Internacional (IEC) en todas las materias de normalización electrotécnica.

Las Normas Internacionales se redactan de acuerdo a las reglas establecidas en la Parte 2 de las Directivas ISO/IEC.

La tarea principal de los comités técnicos es preparar Normas Internacionales. Los Proyectos de Normas Internacionales adoptados por los comités técnicos son enviados a los organismos miembros para votación. La publicación de un documento como Norma Internacional requiere la aprobación de al menos el 75 % de los organismos miembros requeridos para votar.

En otras circunstancias, particularmente cuando el mercado requiere urgentemente los

documentos, el comité técnico respectivo puede decidir si publica otro tipo de documentos:

- Una Especificación ISO disponible públicamente (ISO/EDP), representa un acuerdo entre expertos técnicos en un grupo de trabajo ISO y es aceptada para su publicación si el 50 % o más de los miembros con derecho a voto del comité votan a favor.

- Una Especificación Técnica ISO (ISO/ET), representa un acuerdo entre los miembros de un comité técnico y es aceptada para su publicación si esta es aprobada por 2/3 de los miembros del comité con derecho a voto.

Un ISO/PAS o una ISO/ET se revisa después de tres años con el fin de decidir si se confirma

por otros tres años, se revisa para convertirse en una norma internacional o se retira. Si la

ISO / EDP o la especificación ISO / ET se confirma, se revisa de nuevo después de un

período de tres años, momento en el que debe transformarse en una norma internacional

o retirarse.

Existe la posibilidad de que algunos de los elementos de este documento pueda ser objeto

de derechos de patente. ISO no se hace responsable de la identificación de cualquiera o

todos los derechos de dichas patentes.

La ISO/TS 13830 fue elaborada por el Comité técnico ISO / TC 229 Nanotecnologías. El

proyecto se distribuyó por votación a los organismos nacionales de ISO.


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ÍNDICE DEL CONTENIDO

Pág. PREFACIO

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PREFACIO DE LA NORMA INTERNACIONAL

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ÍNDICE DEL CONTENIDO

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0 INTRODUCCIÓN

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1 OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACIÓN

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2 TÉRMINOS GENERALES

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3 TÉRMINOS RELATIVOS A LAS MEDIDAS DE TAMAÑO Y FORMA

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3.1 Términos relativos a los mensurandos de tamaño y forma 10 3.2 Términos relativos a técnicas de dispersión 11 3.3 Términos relativos a la caracterización de aerosoles 14 3.4 Términos relativos a técnicas de separación 15 3.5 Términos relativos a técnicas de microscopía 16 3.6 Términos relativos a las medidas de área superficial

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4 TÉRMINOS RELATIVOS AL ANÁLISIS QUÍMICO

24

5 TÉRMINOS RELATIVOS A LA MEDIDA DE OTRAS PROPIEDADES

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5.1 Términos relativos a medidas de masa 31 5.2 Términos relativos a medidas de cristalinidad 32 5.3 Términos relativos a medidas de carga en suspensiones

33

6 VIGENCIA

34

7 BIBLIOGRAFÍA

34

8 CONCORDANCIA CON NORMAS INTERNACIONALES

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ANEXO (informativo) Índice alfabético 37


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PROYECTO DE NORMA MEXICANA


Nanotecnologías Vocabulario Parte 6: Caracterización de

nano-objetos

Nanotechnologies — Vocabulary Part 6: Characterization of nano-

objects

0. INTRODUCCIÓN

Las técnicas de medición e instrumentación han abierto en efecto la puerta a la nanotecnología moderna. La caracterización es clave para entender las propiedades y funciones de los nano-objetos.

La caracterización de nano-objetos involucra a personas con formaciones diferentes y dedicadas a diversas especialidades. Los interesados en la caracterización de nano-objetos podrían ser, por ejemplo, especialistas en materiales, biólogos, químicos o físicos con su experiencia principal ya sea en aspectos experimentales o teóricos. Los usuarios de los datos extienden este grupo para incluir reguladores y toxicólogos. Con la finalidad de evitar interpretaciones erróneas y facilitar la comparabilidad y el intercambio confiable de información, es esencial asegurar la claridad de los conceptos, establecer los términos que se usen y sus definiciones.

Los términos se han clasificado bajo los siguientes encabezados: Cláusula 2: Términos generales Cláusula 3: Términos relativos a la medición de tamaño y forma. Cláusula 4: Términos relativos al análisis químico. Cláusula 5: Términos relativos a la medición de otras propiedades. Estos encabezados tienen la intención de servir como guías únicamente ya que algunas técnicas pueden utilizarse para determinar varias propiedades. La subcláusula 3.1 enlista los mensurandos aplicables al resto de la cláusula 3. Otros mensurandos son más específicos de la técnica y se han colocado en el texto adyacente a la técnica correspondiente.

Debería apuntarse que la mayor parte de las técnicas requieren analizar las muestras después de alguna preparación, por ejemplo colocar los nano-objetos sobre una superficie, en un fluido específico o al vacío, lo cual podría modificar la naturaleza de los nano-objetos.

El orden en que aparecen estas técnicas en este documento no debería interpretarse como preferencia, además, las técnicas mencionadas en este documento no pretenden ser exhaustivas. De la misma manera, algunas de las técnicas en este documento son más populares que otras en cuanto a su utilización para el análisis de ciertas propiedades de los nano-objetos. La Tabla 1 relaciona alfabéticamente las técnicas actuales principales para la caracterización de nano-objetos.


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Tabla 1. Técnicas actuales principales para la caracterización de nano-objetos, por orden alfabético.

Propiedad / característica

Técnicas principales

Tamaño microscopía de fuerza atómica sedimentación en líquidos por centrifugación clasificador de partículas por movilidad eléctrica diferencial dispersión dinámica de luz microscopía de barrido con electrones análisis de rastreo de partículas microscopía de transmisión de electrones

Forma microscopía de fuerza atómica microscopía de barrido con electrones microscopía de transmisión de electrones

Área superficial método de Brunauer-Emmett-Teller

Química de la superficie

espectrometría de masas de iones secundarios espectroscopía de fotoelectrones por rayos X

Química de la muestra en volumen

espectroscopía de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente espectroscopia de resonancia magnética nuclear

Carga en suspensiones

potencial zeta

El propósito de este documento es servir como referencia inicial para el vocabulario que soporta los esfuerzos de medición y caracterización en el campo de las nanotecnologías.

El o los términos asociados a cada definición están escritos con caracteres rectos en

negritas. Cuando para un término dado es habitual el uso de un acrónimo, éste se incluye

a continuación del término definido separado por una coma. En los casos en que se aceptan

dos expresiones para la misma definición, se colocan una a continuación de la otra con los

acrónimos correspondientes, separadas por un punto y coma. Por ejemplo, cuando hay dos

términos con acrónimos diferentes, se lee: “término A, ACA; término B, ACB”.

Con la finalidad de facilitar a los usuarios la identificación de los términos definidos en este

PROY-NMX-R-80004-5-SCFI-2015 con los contenidos en la versión original, y

considerando que en ocasiones es habitual reconocer al término por su denominación o

acrónimo original, el Comité Técnico de Normalización Nacional en Nanotecnologías

decidió incluir los términos y los acrónimos en el idioma original. Éstos se muestran en

itálicas entre paréntesis. Los acrónimos en español se encuentran en notas al final de cada

definición. Como anexo se presenta un índice alfabético de términos en español y en el

idioma original acompañados de los acrónimos en español y los originales. Cuando se

encuentran varios términos para la misma definición, aplica la misma forma de expresión

que en español. Por ejemplo, cuando en el original se encuentran dos términos con

acrónimos diferentes, se lee: “term A, ACA; term B, ACB”.


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1. OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACIÓN

Este proyecto de norma mexicana relaciona términos y definiciones relevantes a la caracterización de nano-objetos. 2. TÉRMINOS GENERALES 2.1 nanoescala (nanoscale)

intervalo de dimensiones de 1 nm a 100 nm, aproximadamente

NOTA 1. En este intervalo aparecen, aunque no de manera exclusiva, propiedades que no

son extrapolaciones de un tamaño mayor. Para tales propiedades los límites del intervalo

se consideran aproximados.

NOTA 2. El límite inferior en esta definición (1 nm aproximadamente) se introduce para

evitar la designación de átomos individuales y de pequeños grupos de átomos como nano-

objetos o elementos de nanoestructuras, lo que podría deducirse en ausencia de un límite

inferior.

[Adoptada de NMX-R-80004-1, definición 2.2]

2.2 nano-objeto (nano-object)

material con una, dos o tres de sus dimensiones externas en la nanoescala (2.1)

[Adoptada de NMX-R-80004-1, definición 2.5]

NOTA Término genérico para todos los objetos discretos en la nanoescala.

2.3 nanopartícula (nanoparticle)

nano-objeto con las tres dimensiones externas en la nanoescala

NOTA Si las longitudes del eje más largo y del eje más corto del nano-objeto difieren significativamente, deben considerarse los términos nanobarra o nanoplaca en lugar del término nanopartícula.

[Adoptada de NMX-R-27687-SCFI-2013, definición 4.1]


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2.4 nanoplaca (nanoplate)

nano-objeto con una dimensión externa en la nanoescala y las otras dos significativamente mayores

NOTA 1 La dimensión externa más pequeña es el espesor de la nanoplaca.

NOTA 2 Se considera que las dos dimensiones externas significativamente mayores difieren en más de tres veces de la dimensión contenida en la nanoescala.

NOTA 3 Las dimensiones externas mayores no están necesariamente en la nanoescala.


2.5 nanobarra (nanorod)

nanofibra sólida


2.6 nanofibra (nanofibre)

nano-objeto con dos dimensiones externas similares en la nanoescala y la tercera dimensión significativamente mayor

NOTA 1 Una nanofibra puede ser rígida o flexible.

NOTA 2 Se considera que las dos dimensiones externas similares difieren entre sí en menos de tres veces, mientras que la dimensión externa significativamente mayor difiere de las otras dos en más de tres veces.

NOTA 3 La dimensión externa mayor no está necesariamente en la nanoescala.


2.7 nanotubo (nanotube)

nanofibra hueca


2.8 punto cuántico


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(quantum dot)

nanopartícula cristalina que exhibe propiedades dependientes del tamaño debido a efectos del confinamiento cuántico sobre los estados electrónicos


2.9 partícula (particle)

pieza diminuta de materia con límites físicos definidos

NOTA 1 Un límite físico también puede describirse como una interfaz.

NOTA 2 Una partícula puede moverse como una unidad.

NOTA 3 Esta definición general de partícula se aplica a nano-objetos.


2.10 aglomerado (agglomerate)

conjunto de partículas, agregados o mezcla de ambos, débilmente unidas, en el cual la superficie externa resultante es similar a la suma de las áreas de la superficies de los componentes individuales

NOTA 1 Las fuerzas que mantienen unido un aglomerado son fuerzas débiles, por ejemplo, fuerzas de van der Waals, o un entramado físico simple.

NOTA 2 Los aglomerados también son llamados partículas secundarias y las partículas que los originan son llamadas partículas primarias.


2.11 agregado (aggregate)

partícula compuesta por partículas fuertemente enlazadas o fusionadas, en la cual la superficie externa resultante puede ser significativamente menor que la suma de las áreas superficiales calculadas de los componentes individuales

NOTA 1 Las fuerzas que mantienen unido a un agregado son fuerzas fuertes, por ejemplo enlaces covalentes, o fuerzas resultantes del sinterizado o de un entramado físico complejo.

NOTA 2 Los agregados también son llamados partículas secundarias y las partículas que los originan son llamadas partículas primarias.


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2.12 aerosol (aerosol)

sistema de partículas (2.9) sólidas o líquidas suspendidas en un gas [Adoptada de ISO 15900:2009, definición 2.1] 2.13 suspensión (suspension)

mezcla heterogénea de materiales que comprenden un líquido y un sólido finamente disperso 3 TÉRMINOS RELATIVOS A LAS MEDIDAS DE TAMAÑO Y FORMA

3.1 TÉRMINOS RELATIVOS A LOS MENSURANDOS DE TAMAÑO Y FORMA

3.1.1 tamaño de partícula (particle size)

dimensión lineal de una partícula (2.9) determinada por un método de medida específico y bajo condiciones de medición especificadas NOTA Los diferentes métodos de análisis tienen como bases distintas propiedades físicas. El tamaño de partícula puede ser reportado como una dimensión lineal independiente de la propiedad de la partícula realmente medida. [Adoptada de ISO 26824:2013, definición 1.5]

3.1.2 distribución de tamaño de partícula (particle size distribution)

distribución de partículas (2.9) como función del tamaño de partícula (3.1.1) NOTA 1 La distribución de tamaño de partícula puede ser expresada como una función de distribución -distribución acumulativa- o una función de densidad de probabilidad –distribución de la fracción de partículas en una clase de tamaño dividida por el ancho de la clase-.

[Adaptada de ISO 14644‑1:1999, definición 2.2.4]


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3.1.3 forma de la partícula (particle shape)

forma geométrica externa de una partícula (2.9) [Adoptada de ISO 3252:1999] 3.1.4 aspecto relación de aspecto (aspect ratio)

cociente de la longitud de una partícula (2.9) respecto a su ancho [Adoptada de ISO 14966:2002, definición 2.8] 3.1.5 diámetro equivalente (equivalent diameter)

diámetro de una esfera que produce una respuesta equivalente a la respuesta producida por la partícula (2.9) bajo medición, para un método dado de medida de tamaño de partícula NOTA 1 La propiedad física a la cual se refiere el diámetro equivalente se

indica mediante el uso de subíndice apropiado (véase ISO 9276‑1:1998).

NOTA 2 Para instrumentos contadores de partículas discretas por dispersión de luz se usa un diámetro óptico equivalente. NOTA 3 Algunas propiedades específicas del material, como la densidad de las partículas, se utilizan para calcular diámetros equivalentes como el diámetro de Stokes o el diámetro equivalente de sedimentación. En este caso, debe informarse las propiedades específicas y los valores utilizados. NOTA 4 Para instrumentos inerciales se utiliza el diámetro aerodinámico. El diámetro aerodinámico es el diámetro de una esfera con densidad de 1000 kg m-3 que muestra la misma velocidad de sedimentación que la partícula irregular. [Adaptada de NMX-R-27687-SCFI-2013, A.3.3]

3.2 TÉRMINOS RELATIVOS A TÉCNICAS DE DISPERSIÓN

3.2.1 radio de giro (radius of gyration) medida de la distribución de masa respecto a un eje dado, representada por la raíz cuadrada del momento de inercia respecto al eje dado dividido por la masa


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NOTA EXPLICATIVA NACIONAL – Si I representa el momento de inercia, M la masa y k

el radio de giro, la ecuación que los relaciona es 𝑘 = √𝐼

𝑀 .

3.2.2 dispersión de neutrones a ángulos pequeños (small angle neutron scattering, SANS)

método en el cual se dispersa un haz de neutrones por la muestra y se mide la intensidad de los neutrones deflectados a ángulos pequeños NOTA: Usualmente se toman valores del ángulo de deflexión entre 5º y 10º cuando se estudia la estructura del material en el intervalo de 1 nm a 100 nm. El método aporta información sobre el tamaño de las partículas y, de manera limitada, sobre las formas de las partículas dispersadas en medios homogéneos. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es DNAP. 3.2.3 difracción de neutrones (neutrón diffraction)

aplicación de la dispersión elástica de neutrones para la determinación de la estructura atómica o magnética de la materia NOTA: Los neutrones emergentes en el experimento tienen aproximadamente la misma energía que los neutrones incidentes. El patrón de difracción así formado ofrece información sobre la estructura del material. 3.2.4 dispersión de rayos X a ángulos pequeños (small angle X-ray scattering, SAXS)

método en el cual se mide la intensidad de rayos X dispersados elásticamente para deflexiones a pequeños ángulos NOTA: Usualmente se mide la dispersión angular en el intervalo entre 0.1º y 10º a fin de obtener información estructural en macromoléculas y periodicidad típicamente en longitudes en el intervalo entre 5 nm y 100 nm en sistemas ordenados o parcialmente ordenados.

[Adoptada de ISO 18115‑1, definición 4.18]

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es DXAP. 3.2.5 dispersión de luz (light scattering)


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cambio en la propagación de la luz en la interfase de dos medios con propiedades ópticas diferentes [Adoptada de ISO 13320:2009, definición 3.1.17] 3.2.6 diámetro hidrodinámico (hydrodynamic diameter)

diámetro equivalente (3.1.5) de una partícula (2.9) en un líquido, con el mismo coeficiente de difusión que la partícula real en el líquido 3.2.7 dispersión dinámica de luz; espectroscopía de correlación de

fotones; dispersión cuasielástica de luz (dynamic light scattering, DLS; photon correlation spectroscopy, PCS;

quasi-elastic light scattering, QELS)

método en el cual las partículas (2.9) que presentan un movimiento Browniano en una suspensión líquida (2.13) se iluminan con un láser y el cambio en la intensidad de la luz dispersada se usa para determinar el tamaño de partícula (3.1.1) NOTA 1: El análisis de la intensidad de la luz dispersada, en función del tiempo, resulta en el coeficiente de difusión translacional del cual se determina el tamaño de partícula (3.2.6) por medio de la ecuación de Stokes-Einstein. NOTA 2: El análisis es aplicable a nanopartículas (2.3) en vista de que el tamaño de las partículas que típicamente se detectan con este método está en el intervalo entre 1 nm y 6000 nm. El límite superior se debe a las limitaciones del movimiento Browniano y la sedimentación. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: Los acrónimos en español para estos términos son respectivamente DDL, ECF, DCL. 3.2.8 rastreo de nanopartículas; rastreo de partículas (nanoparticle tracking analysis, NTA; particle tracking analysis, PTA)

método en el cual las partículas (2.9) que presentan un movimiento Browniano en una suspensión líquida (2.13) se iluminan con un láser y el cambio en la posición de las partículas individuales se usa para determinar el tamaño de partícula (3.1.1) NOTA 1: El análisis de las posiciones de las partículas individuales, en función del tiempo, por medio de la luz dispersada resulta en el coeficiente de difusión translacional del cual se determina el tamaño de partícula (3.2.6) por medio de la ecuación de Stokes-Einstein. NOTA 2: El análisis es aplicable a nanopartículas (2.3) en vista de que el tamaño de las partículas que típicamente se detectan con este método está en el intervalo entre 10 nm y 2000 nm. El límite inferior requiere partículas con un


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alto índice de refracción. El límite superior se debe a las limitaciones del movimiento Browniano y la sedimentación. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: Los acrónimos en español para estos términos son respectivamente RNP, RP. 3.3 TÉRMINOS RELATIVOS A LA CARACTERIZACIÓN DE AEROSOLES 3.3.1 contador de partículas por condensación, (condensation particle counter, CPC)

instrumento que mide la concentración de partículas en número, en aerosol NOTA 1: El tamaño de las partículas que el instrumento detecta es usualmente menor que centenas de nanómetros y mayor que unos pocos nanómetros.

NOTA 2: Un CPC es uno de los posibles detectores adecuados para usarse con un clasificador por movilidad eléctrica diferenciada (DEMC).

NOTA 3: Los CPC también se denominan contadores de núcleos de condensación (CNC) en algunos casos.

[Adoptada de ISO 15900:2009, definición 2.5.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es CPC.

3.3.2 clasificador por movilidad eléctrica diferenciada (differential electrical mobility classifier, DEMC)

clasificador con la capacidad para seleccionar partículas (2.9) de aerosol (2.12) de acuerdo a su movilidad eléctrica y a conducirlas a su salida

NOTA: Un DEMC clasifica a las partículas de aerosol mediante el balance de la fuerza electrostática sobre cada partícula con la fuerza de arrastre aerodinámico a que está sometida en un campo eléctrico. Las partículas se clasifican en un intervalo estrecho de movilidad eléctrica determinado por las condiciones de operación y las dimensiones del DEMC, en tanto que pueden tener diferentes tamaños debido a la diferencia en el número de cargas que porten. [Adoptada de ISO 15900:2009, definición 2.7] NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es CMED.

3.3.3 sistema de análisis por movilidad diferenciada (differential mobility analysing system, DMAS)

sistema para medir la distribución de tamaño de partículas en aerosol que consiste de un DEMC (3.3.2), medidores de flujo, un detector de partículas, tubería y conectores, una computadora y software apropiado


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[Adoptada de ISO 15900:2009, definición 2.8] NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es SMAD.

3.3.4 electrómetro para aerosoles por copa de Faraday (Farady cup aerosol electrometer, FCAE)

sistema diseñado para medir cargas eléctricas portadas por partículas (2.9) de aerosol (2.12) NOTA 1: Un electrómetro para aerosoles por copa de Faraday consiste de una copa conductora de electricidad, aterrizada eléctricamente, como guarda para cubrir el sensor que incluye el filtro para el aerosol a fin de capturar las partículas de aerosol cargadas, un conector eléctrico entre el sensor y el circuito del electrómetro, y un medidor de flujo. [ Adaptada de ISO 15900:2009, definición 2.12] NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EACF.

3.4 TÉRMINOS RELATIVOS A TÉCNICAS DE SEPARACIÓN 3.4.1 fraccionamiento del flujo por campo (field flow fractionation, FFF)

técnica de separación en la cual se aplica un campo a una suspensión líquida (2.13) que pasa por un canal estrecho a fin de separar las partículas presentes en el líquido, dependiendo de su diferente movilidad al someterse a la fuerza ejercida por el campo aplicado NOTA 1: El campo puede ser, por ejemplo, gravitatorio, centrífugo, de flujo de líquidos, eléctrico o magnético. NOTA 2: Puede determinarse el tamaño y la distribución de tamaño de nano-objetos mediante el uso de un detector apropiado durante o después de la separación. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es FFC. 3.4.2 sedimentación en líquidos por centrifugación; sedimentación por

centrifugación diferencial (centrifugal liquid sedimentation, CLS; differential centrifugal sedimentation,

DCS)

método por el cual se separa una muestra con base en su tamaño y densidad mediante el uso de un disco giratorio lleno con un fluido que presenta un gradiente de su densidad


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NOTA: Dependiendo de la densidad de las partículas (2.9), la técnica puede medir el tamaño de las partículas (3.1.1) y la distribución del tamaño de partícula (3.1.2) en el intervalo entre 2 nm y 10 mm, con una resolución tal que distingue tamaños de partículas que difieren por menos de 2 %. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: Los acrónimos en español para estos términos son respectivamente SLC, SCD. 3.4.3 cromatografía por exclusión de tamaño (size-exclusion chromatography, SEC)

técnica de cromatografía de líquidos en la cual la separación se lleva a cabo con base en el volumen hidrodinámico de las moléculas que eluyen en una columna empacada con material poroso, no adsorbente, con dimensiones de poro similar al tamaño de las moléculas bajo separación [Adoptada de ISO 16014.1:2012, definición 3.1] NOTA 1: Esta técnica puede acoplarse a un detector, por ejemplo un DLS (3.2.7), a fin de determinar el tamaño y la distribución de tamaño de la especie por elución. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es CET. 3.4.4 detección eléctrica de zona; conteo Coulter (electrical zone sensing; Coulter counter)

método para contar y determinar el tamaño de partículas (2.9) en electrolitos, mediante la medición del cambio de la corriente eléctrica cuando una partícula atraviesa una apertura entre dos cámaras NOTA 1: El cambio de la corriente eléctrica es proporcional al volumen de la partícula NOTA 2: Las partículas son conducidas a través de la apertura por diferencia de presión o por un campo eléctrico. NOTA 3: La apertura puede tener dimensiones en la nanoescala (2.1) a fin de permitir la determinación del tamaño de nano-objetos individuales. 3.5 TÉRMINOS RELATIVOS A TÉCNICAS DE MICROSCOPÍA Las siguientes son definiciones de términos relacionados con métodos de microscopía. Note que la presencia de la letra “M” en los acrónimos puede referirse tanto a “microscopía” como a “microscopio” dependiendo del contexto. Para construir la definición correspondiente a “microscopio” se sustituye la palabra “método” por “instrumento” en todas las ocasiones que aparezca.


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3.5.1 microscopía de barrido con sonda (scanning probe microscopy, SPM)

método de análisis de superficies con imágenes obtenidas mediante barrido mecánico con una sonda sobre la superficie de estudio, en el cual se mide la respuesta correspondiente del detector.


NOTA 1: Este término es genérico y engloba varios métodos incluyendo microscopía de fuerza atómica (3.5.2), microscopía óptica de barrido de campo cercano (3.5.4) microscopía de barrido por conductividad iónica y microscopia de barrido por efecto túnel.

NOTA 2: La resolución varía desde la más fina de la microscopia de barrido por efecto túnel, por la cual pueden resolverse átomos individuales, hasta la microscopía de barrido térmico en la cual la resolución generalmente está

limitada a aproximadamente 1 m.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 1: Se han publicado resultados de microscopía de barrido térmico que indican una resolución espacial del orden de nanómetros, ver K. Kim,

W. Jeong, W. Lee, and P. Reddy, ACS Nano 6(5), 4248–4257 (2012). NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 2: El acrónimo en español para este término es MBS.

3.5.2. microscopía de fuerza atómica (atomic force microscopy, AFM)

método de análisis de superficies mediante imágenes obtenidas por barrido mecánico de contornos de superficies, en el cual la desviación de una sonda afilada montada en un cantilever se utiliza como sensor y monitor de las fuerzas en la superficie


NOTA 1: La AFM proporciona imágenes en las cuales se puede cuantificar la altura tanto en superficies aislantes como conductoras.

NOTA 2: En algunos instrumentos de AFM se mueven las muestras en las direcciones x, y y z, manteniendo la sonda en una posición fija, mientras en otros se mueve la sonda sobre la muestra mantenida estática.

NOTA 3: La AFM puede llevarse a cabo al vacío, en un medio líquido, en una atmosfera controlada o en aire. Pueden alcanzarse resoluciones a nivel atómico con muestras adecuadas, sondas suficientemente agudas y el uso de un modo de imagen apropiado.


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NOTA 4: Mediante AFM pueden medirse varios tipos de fuerzas tales como fuerzas normales o laterales, de fricción o fuerzas de corte. Cuando se miden estas últimas se hace referencia a la técnica como microscopía de fuerza lateral,

de fuerza de fricción o de fuerza de corte. El término genérico comprende todos los tipos de microscopía por fuerza.

NOTA 5: La AFM puede usarse para medir fuerzas normales en puntos individuales de la superficie, en la matriz de pixeles de la imagen.

NOTA 6: En una sonda típica para AFM de radio menor a 100 nm, la fuerza normal debería ser menor que 0.1 μN aproximadamente, dependiendo del material de la muestra, de otro modo podría ocurrir una deformación irreversible de la superficie o un desgaste excesivo de la sonda.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 1: No se recomienda el uso del término “microscopía de barrido con fuerza” utilizado ocasionalmente para denominar la MFA.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 2: Debe considerarse que la fuerza normal no solo está en función del radio de la punta y del material, sino también de la longitud del cantilever de la sonda de barrido.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 3: El acrónimo en español para este término es MFA.

3.5.3. microscopia de barrido por efecto túnel (scanning tunnelling microscopy, STM)

modo de microscopía de barrido con sonda, MBS, para obtener imágenes de superficies conductoras mediante barrido mecánico con una sonda aguzada, conductora, a una cierta tensión eléctrica, que genera la imagen a partir de los datos de la corriente producida por efecto túnel y de la separación entre la sonda y la superficie

NOTA 1: La STM puede realizarse al vacío, en un medio líquido, en una atmosfera controlada o en aire. Pueden alcanzarse resoluciones a nivel atómico con muestras adecuadas, sondas suficientemente agudas y el uso de un modo de imagen apropiado.

NOTA 2: Las imágenes pueden formarse a partir de los datos: de altura a corriente producida por efecto túnel, constante; de variaciones de la corriente producida por efecto túnel obtenidos a una altura constante; o de otros modos a valores de tensión eléctrica definidos entre la sonda y la muestra.

NOTA 3: La STM puede ser usada para mapear las densidades de estados en las superficies o, en casos ideales, en la vecindad de átomos individuales. Las imágenes de superficie pueden diferir significativamente dependiendo de la tensión eléctrica de la sonda, incluso para la misma topografía.

[Adoptada de ISO 18115‑2, definición 4.3.5]


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NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 1: El acrónimo en español para este término es MBT.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 2: Ocasionalmente en idioma español, la “corriente producida por efecto túnel” se denomina “corriente de tunelamiento” o “corriente de tuneleo”.

3.5.4 microscopia de barrido con sonda óptica en campo cercano (near-field scanning optical microscopy, NSOM; scanning near-field optical

microscopy, SNOM)

método de obtención de imágenes de superficies por medios ópticos, ya sea por transmisión o por reflexión, mediante el barrido mecánico de la superficie con una sonda ópticamente activa, mucho más pequeña que la longitud de onda de la luz, mientras se monitorea la luz transmitida o reflejada, o una señal asociada, en el régimen de campo cercano

NOTA 1: La topografía es importante y la sonda barre a una altura constante. Usualmente la sonda se hace oscilar en el modo de corte para detectar y determinar la altura.

NOTA 2: Cuando la extensión de la sonda óptica se define por una apertura, el tamaño de apertura se encuentra típicamente en el intervalo de 10 nm a 100 nm lo cual define en gran medida la resolución. Este tipo de instrumento se llama a menudo un MOBCC de apertura para distinguirlo de un MOBCC de dispersión, aunque, en general, se omite el adjetivo "de apertura". En la forma sin apertura, la extensión de la sonda ópticamente activa se define por un metal puntiagudo iluminado o una sonda recubierta de metal con un radio típicamente en el intervalo 10 nm a 100 nm, lo cual define en gran medida la resolución

NOTA 3: Además de la imagen óptica, la MOBCC puede proporcionar una imagen cuantitativa de los contornos de la superficie similar a la disponible por MFA y a otras técnicas similares de barrido por sonda.


NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es MOBCC.

3.5.5. microscopía de barrido con electrones (scanning electron microscopy, SEM)

método que examina y analiza la información física (tal como electrones secundarios, electrones retrodispersados, electrones absorbidos, radiación de rayos X) obtenida mediante la generación de haces de electrones que barren la superficie de la muestra a fin de determinar la estructura, composición y topografía de la muestra


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[Adaptada de ISO 17751, definición 4.10]

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 1: El acrónimo en español para este término es MBE.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 2: Las imágenes obtenidas por MBE son sólo representaciones en un plano de los tamaños y las formas tridimensionales de las partículas al ser observadas desde cierto ángulo. No obstante estas imágenes aportan información valiosa sobre características tridimensionales.

3.5.6. microscopía por transmisión con electrones (transmission electron microscopy, TEM)

método que produce imágenes amplificadas o patrones de difracción de electrones de la muestra mediante un haz de electrones el cual pasa a través de la muestra e interactúa con ésta.

[Adaptada de ISO 29301:2010, definición 3.37]

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es MTE.

3.5.7 microscopía por transmisión y barrido con electrones, MTBE (scanning transmission electron microscopy, STEM)

método que produce imágenes amplificadas o patrones de difracción de electrones de la muestra mediante un haz de electrones finamente enfocado que barre la superficie y que pasa a través de la muestra e interactúa con esta.

NOTA 1: Típicamente usa un haz de electrones con un diámetro menor a 1 nm.

NOTA 2: Proporciona imágenes de alta resolución de la microestructura interna y de la superficie de una muestra delgada o de partículas pequeñas. También ofrece la posibilidad de caracterizar estructural y químicamente dominios en el orden de micrómetros y submicrómetros, por medio de la evaluación de espectros de rayos X y de patrones de difracción de electrones.

[Adaptada de ISO/TS 10797, definición 3.10]

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es MTBE.

3.5.8 microscopía con electrones de baja energía (low energy electron microscopy, LEEM)

método que examina superficies sobre las que se han formado imágenes o patrones de difracción a partir de electrones retroproyectados de baja energía generados por un haz de electrones

NOTA 1: El método se utiliza típicamente para hacer imágenes y analizar superficies limpias muy planas.


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NOTA 2: Las energías de los electrones de baja energía se encuentran en el intervalo de 1 eV a 100 eV.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es MEBE.

3.5.9 microscopía de barrido con iones (scanning ion microscopy)

método en el cual un haz de iones enfocado sobre un punto en la escala sub-nanométrica barre una superficie para crear una imagen

NOTA: Pueden usarse iones varios para formar imágenes incluyendo helio, neón y argón.

3.5.10 microscopía óptica confocal (confocal optical microscopy)

método para microscopía en el cual, idealmente, se ilumina un punto en el plano objetivo mediante un haz puntual de luz con difracción limitada, y la luz que emana de ese punto se enfoca y se detecta sobre un área más pequeña que el área central del disco de difracción situado en la posición correspondiente del plano de campo.

NOTA 1: La imagen de un área extendida se forma ya sea barriendo el objeto, o barriendo simultáneamente el punto iluminado y el detectado.

NOTA 2: El principio de confocalidad da lugar a un mejor contraste y resolución axial ya que suprime la luz desde los planos fuera de foco.


3.5.11 microscopía de contraste elipsométrico aumentado por la superficie (surface enhanced ellipsometric contrast microscopy, SEEC microscopy)

método de construcción de imágenes ópticas que utiliza la asociación de superficies de contraste aumentado en forma de muestras de película, con un microscopio óptico de luz reflejada con polarizadores cruzados

NOTA: La películas para aumentar el contraste se diseñan para que sean antirreflejantes al ser usadas en estas condiciones. Pueden incrementar la sensibilidad axial del microscopio óptico por un factor de alrededor de 100.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es MCEAS.


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3.5.12 fluorescencia (fluorescence)

fenómeno en el cual la absorción de luz de una longitud de onda dada por una substancia es seguida por la emisión de luz a una longitud de onda mayor

[Adaptada de ISO 18115-2:2010, definición 6.52]

3.5.13 microscopía de fluorescencia (fluorescence microscopy)

método de microscopía óptica en el que se forman imágenes a partir de la fluorescencia (3.5.12) emitida por la muestra

NOTA 1: Se requiere una fuente de luz para excitar la fluorescencia de la muestra. Dicha fluorescencia se da a longitudes de onda menores que la de la luz utilizada para formar la imagen. Habitualmente se utilizan filtros para separar la luz de excitación de la luz emitida.

NOTA 2: La microscopía de fluorescencia presenta muchas variantes, incluyendo los métodos de campo extenso (epifluorescencia), confocal, la microscopía de fluorescencia de reflexión interna total (3.5.14) y la microscopía de super-resolución (3.5.15).

NOTA 3: La fluorescencia observada puede ser intrínseca a la muestra o provenir del uso de pigmentos fluorescentes.

3.5.14 microscopía de fluorescencia por reflexión interna total (total internal reflection fluorescence microscopy, TIRF microscopy)

método en el que se excita la fluorescencia en una capa delgada mediante una onda evanescente producida por reflexión total

[Adaptada de ISO 10934-2:2007, definición 2.51]

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es MFRIT.

3.5.15 microscopía de super-resolución

(super-resolution microscopy)

método de microscopía en el cual se alcanza una resolución espacial más fina que la que

se obtiene normalmente dentro de las limitaciones por difracción


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NOTA 1: Los tipos de microscopía de super-resolución más comunes incluyen la

microscopía por localización (3.5.16), la microscopía por disminución de

emisión estimulada (STED) y la microscopía por iluminación estructurada

(SIM).

NOTA 2: La mayor parte de las técnicas microscópicas de super-resolución se basan

en la fluorescencia (3.5.12).

3.5.16 microscopía por localización

(localization microscopy)

método de microscopía de super-resolución (3.5.15) el cual utiliza la localización precisa de

moléculas individuales (usualmente fluorescentes) para construir una imagen

NOTA 1: Se han desarrollado numerosas técnicas de microscopía por localización,

las cuales difieren principalmente en el tipo de sensores que utilizan. Entre

los ejemplos se cuenta la microscopía por localización mediante

fotoactivación (PALM) la que depende de moléculas fotoactivables, y la

microscopía de reconstrucción óptica estocástica (STORM) dependiente

de la fluorescencia intermitente de los fluoróforos.

NOTA 2: A fin de lograr la localización precisa de moléculas fluoróforas, sus

imágenes no deben traslaparse. Por tanto, normalmente para reconstruir

una imagen completa se requieren numerosas moléculas en cuadros

vecinos, y las moléculas deben poder “apagarse” de alguna manera.

3.6 TÉRMINOS RELATIVOS A LAS MEDIDAS DE ÁREA SUPERFICIAL

3.6.1 área superficial específica por unidad de masa

(mass specific surface area)

área superficial absoluta de la muestra dividida por la masa de la muestra.

NOTA: El área superficial específica por unidad de masa tiene unidades de m2/kg.


3.6.2 área superficial específica por unidad de volumen

(volume specific surface area)

área superficial absoluta de la muestra dividida entre el volumen de la muestra.

NOTA: El área superficial específica por unidad de volumen tiene unidades de m-1.

Adaptada de ISO 9277:2010, definición 3.11]


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3.6.3 método Brunauer-Emmett-Teller

(BET method, BET)

método para la determinación del área superficial específica externa e interna de polvos

dispersos y/o sólidos porosos a través de la medición de la cantidad de gas físicamente

adsorbido, mediante el modelo desarrollado por Brunauer-Emmett-Teller para la

interpretación de isotermas de adsorción de gases

NOTA 1: El método proviene de Brunauer, S., Emmett, P.H., and Teller E. Adsorption

of gases in multimolecular layers, J.Am.Chem. Soc. 60 (1938) p. 309.

NOTA 2: El método BET es aplicable solo a las isotermas de tipo II (sólidos

dispersos, no porosos o macroporosos) y tipo IV (sólidos mesoporosos, con

diámetro de poro entre 2 nm y 50 nm). No detecta los poros inaccesibles. El

método BET no puede aplicarse de manera confiable a solidos que

absorban el gas de medición.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es BET.

4 TÉRMINOS RELATIVOS AL ANÁLISIS QUÍMICO Las siguientes definiciones corresponden a los términos relacionados con el análisis químico. En la lista dada en el Anexo A, notar que la letra “E” en el acrónimo se refiere a “espectroscopia” pero también puede referirse a “espectrometría” dependiendo del contexto. La definición del espectrómetro correspondiente se obtiene reemplazando la palabra “método” por la palabra “instrumento”, en donde corresponda. Esta sección contiene también definiciones de algunos fenómenos en el mismo tema. 4.1 espectroscopia óptica (optical spectroscopy)

espectroscopia en la cual la radiación es la radiación electromagnética en las longitudes de onda visible, ultravioleta o infrarrojo 4.2 luminiscencia (luminescence) emisión de radiación óptica por átomos, moléculas o iones en un material, la cual, para ciertas longitudes de onda o regiones del espectro, sobrepasa a la emisión térmica de ese material a la misma temperatura, como un resultado de que dichas partículas son excitadas por una energía diferente a la térmica

[Adaptada de 60050‑845:1987, definición 04-19]


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4.3 fotoluminiscencia (photoluminescence, PL)

luminiscencia (4.2) causada por la absorción de radiación óptica

[Adaptada de IEC 60050‑845:1987, definición 04-19]

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es FL.

4.4 espectroscopia de fotoluminiscencia (photoluminescence spectroscopy, PL spectroscopy) espectroscopia de fotones adsorbidos y re-radiados. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EFL.

4.5 espectroscopia de fluorescencia (fluorescence spectroscopy)

espectroscopia de luz emitida por una sustancia que ha sido iluminada. 4.6 espectroscopia UV-Vis (UV-Vis spectroscopy)

espectroscopia de radiación la cual es radiación electromagnética con longitudes de onda en la región ultravioleta o la visible. 4.7 espectroscopia de correlación de fluorescencia (fluorescence correlation spectroscopy, FCS)

espectroscopia que utiliza un análisis de la correlación de fluctuaciones de la intensidad de la fluorescencia (3.5.12). NOTA: El análisis proporciona el número promedio de partículas fluorescentes (2.9) y el tiempo de difusión promedio, cuando la partícula pasa a través del volumen de medición. Eventualmente se determinan, la concentración y el tamaño de la partícula. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es ECF.

4.8 espectroscopia de infrarrojo con transformada de Fourier (Fourier transform infrared spectroscopy, FTIR)

método en el cual una muestra sujeta a la excitación de enlaces moleculares por radiación infrarroja de banda ancha, pulsada, presenta un espectro de absorción obtenido mediante el método matemático de transformada de Fourier [Adaptada de ISO 13943:2008, definición 4.158]


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NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EIRTF.

4.9 efecto Raman (Raman effect)

fenómeno en el cual las moléculas iluminadas con radiación monocromática emiten radiación caracterizada por pérdidas o ganancias de energía surgidas de la excitación de niveles energéticos asociados a rotación o vibración.

[Adaptada de ISO 18115‑2, definición 6.128]

4.10 espectroscopia Raman (Raman spectroscopy)

espectroscopia en la cual el efecto Raman (4.9) se utiliza para investigar los niveles de energía moleculares


4.11 espectroscopia Raman amplificada por una superficie (surface enhanced Raman spectroscopy, SERS)

efecto Raman (4.9) amplificado que se observa en ciertas moléculas o nano-objetos (2.2) adsorbidos en superficies metálicas particulares cuya rugosidad está en la nanoescala (2.1), cuando se iluminan con una luz adecuada NOTA 1: Los metales en donde típicamente se observa amplificación en diferentes grados incluyen el oro, la plata, el cobre y el aluminio. NOTA 2: La rugosidad de una superficie sobre la cual pueda ocurrir la amplificación típicamente está en el intervalo de unas décimas de nanómetros.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es ERAS.

4.12 espectroscopia Raman amplificada con una punta (tip-enhanced Raman spectroscopy, TERS)

efecto Raman (4.9) amplificado que se observa cuando una punta metálica en la cercanía de la superficie de una muestra se ilumina con una luz polarizada adecuada



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NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es ERAP.

4.13 espectrómetro de electrones (electron spectrometer)

dispositivo cuya parte esencial se utiliza para medir el número de electrones, o una intensidad proporcional a dicho número, como una función de la energía cinética del electrón NOTA: El término espectrómetro de electrones puede utilizarse también como un

sinónimo de analizador de la energía de electrones o para describir un instrumento más complejo con base en un analizador de energía de electrones y componentes opto-electrónicos adicionales. En ocasiones, el término se utiliza para describir sistemas completos que incluyen analizadores de energía, componentes óptico-electrónicos, detectores de electrones, fuentes de excitación, bombas de vacío, controles electrónicos y sistemas de procesamiento de datos. El significado normalmente se aclara con el contexto.

[Adaptada de ISO 18115‑1, definiciones 5.187 y 5.190]

4.14 espectroscopia de energía perdida por electrones (electron energy loss spectroscopy, EELS)

método en el cual un espectrómetro de electrones (4.13) mide el espectro de energía de electrones nominalmente monoenergéticos, emitido después de que éstos han sufrido interacciones inelásticas con la muestra; con frecuencia exhiben picos debido a procesos específicos de pérdidas inelásticas NOTA 1: El espectro obtenido usando un haz incidente de electrones de aproximadamente la misma energía como en la espectroscopia de electrones Auger (4.16) o al de picos obtenido por espectroscopia de fotoelectrones por rayos X (4-18) se aproxima al espectro de pérdida de energía asociado a ese pico. NOTA 2: El espectro de energía perdida por los electrones, medido con un haz incidente de electrones, es función de la energía y el ángulo de incidencia del haz, el ángulo de emisión y de las propiedades electrónicas de la muestra.


NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EEPE.

4.15 electrón Auger


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(Auger electron)

electrón emitido por un átomo al relajarse emitiendo otro electrón que deja una vacancia en una de las capas internas del átomo NOTA. Los electrones emitidos tienen energías características.


4.16 espectroscopia de electrones Auger (Auger electron spectroscopy, AES)

método en el cual se usa un espectrómetro de electrones (4.13) para medir la distribución de energía de los electrones Auger (4.15) emitidos desde una superficie NOTA: Con frecuencia se utiliza un haz de electrones en el intervalo de energía de 2 keV a 30 keV para la excitación de electrones Auger. Estos electrones también pueden excitarse con rayos X, iones y otras fuentes pero el término de espectroscopia de electrones Auger, sin calificativos adicionales, se reserva normalmente para la excitación inducida por un haz de electrones. Cuando se utiliza una fuente de rayos X, las energías de los electrones Auger son referidas al nivel de Fermi pero cuando se utiliza un haz de electrones, la referencia puede ser el nivel de Fermi o el nivel de vacío. Los espectros convencionalmente pueden presentarse en formas directas o diferenciales.


NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EEA.

4.17 espectroscopia de fotoelectrones ultravioleta (ultraviolet photoelectron spectroscopy, UPS)

método en el cual se utiliza un espectrómetro de electrones (4.13) para medir la distribución de energía de los fotoelectrones emitidos desde una superficie irradiada por fotones ultravioleta NOTA: Las fuentes de radiación ultravioleta de uso común incluyen varios tipos de descargas que pueden generar las líneas de resonancia de varios gases (p. ej. las líneas de emisión del He I y el He II a energías de 21.2 eV y 40.8 eV, respectivamente). Cuando se requiere energía variable, se utiliza la radiación de sincrotrón.


NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EFU.


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4.18 espectroscopia de fotoelectrones por rayos X (X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)

método en el cual se usa un espectrómetro de electrones (4.13) para medir la distribución de energía de fotoelectrones y electrones Auger (4.15) emitidos de superficies irradiadas con rayos X NOTA: Las fuentes de rayos X de uso común son rayos X Al Ka (1 486.6 eV) y Mg Ka (1 253.6 eV) no monocromatizados. Algunos instrumentos modernos usan radiación Al Ka monocromatizada. En algunos casos la fuente de rayos X es radiación de sincrotrón.


NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EFX.

4.19 espectroscopia de absorción de rayos X (X-ray absorption spectroscopy, XAS)

método en el cual se mide la energía de los rayos X que es absorbida al pasar a través de la materia como una función de la energía de rayos X incidentes NOTA 1: El método se usa para determinar la geometría local o la estructura electrónica de la materia. NOTA 2: La espectroscopia de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS), la espectroscopia de absorción de rayos X próxima al borde (XANES), la espectroscopia de estructura fina de absorción de rayos X extendida al borde (NEXAFS) son tipos de espectroscopia de absorción de rayos X.

NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EAX.

4.20 fluorescencia de rayos X (X-ray fluorescence, XRF)

radiación secundaria que ocurre cuando un haz de rayos X incidente de alta intensidad impacta un material colocado en su ruta

NOTA 1: La emisión secundaria tiene longitudes de onda y energías características del material. [Adoptada de ISO 3497:2000] NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es FRX.

4.21 espectrometría de dispersión de energía de rayos X (energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS, EDX)


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espectrometría de rayos X en la cual se miden las energías de fotones individuales por un detector en paralelo, con lo cual se construye un histograma representativo de la distribución de los rayos X en función de la energía [Adoptada de ISO 22309:2011, definición 3.11] NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EDEX.

4.22 espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)

método en el cual, mediante un espectrómetro de masas, se detecta una descarga de alta temperatura generada en un flujo de argón por un campo magnético alterno inducido por una bobina de carga de radiofrecuencia que rodea el tubo que conduce el gas [Adaptada de ISO 15202-3:2004, definición 3.3.7] NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EMPAI.

4.23 espectrometría de masas de iones secundarios (secondary-ion mass spectrometry, SIMS)

método en el cual se utiliza un espectrómetro de masas para medir el cociente masa-carga y la abundancia de los iones secundarios emitidos por una muestra como resultado del bombardeo con iones de alta energía NOTA: Por convención, generalmente SIMS se clasifica como dinámica si las capas de la superficie del material se remueven continuamente conforme se van midiendo; y como estática cuando la dosis de iones primarios durante la medición se limita a menos de 1016 iones/m2, con el fin de conservar la superficie sin daño relevante. [Adoptada de ISO 18115-1, definición 4.17] NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es EMIS.

4.24 tomografía con sonda atómica (atom-probe tomography)

método para identificar átomos o moléculas individuales removidas de una nanofibra (2.6) por evaporación mediante un campo pulsado, los que se detectan mediante espectrometría de masas por tiempo de vuelo NOTA: Se utiliza un detector sensible a la posición para deducir la ubicación lateral de los átomos. 4.25 análisis de los gases desprendidos;


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análisis de la evolución de gases (evolved-gas analysis, EGA)

método en el que las características o la cantidad de producto(s) volátil(es) liberado(s) por una sustancia se miden como una función de la temperatura mientras que la substancia está sujeta a un programa de temperatura controlada [Adaptada de ISO 472:2013, definición 2.345] NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es AEG.

4.26 espectroscopia de resonancia magnética nuclear, RMN (nuclear magnetic resonance spectroscopy, NMR spectroscopy)

método que utiliza las propiedades de resonancia magnética del núcleo de un átomo para determinar las propiedades físicas y químicas de átomos y moléculas NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es RMN.

4.27 resonancia paramagnética electrónica; resonancia de espín electrónico (electron paramagnetic resonance, EPR; electron spin resonance, ESR)

método utilizado para estudiar especies químicas que tienen uno o más electrones no apareados por medio de la excitación resonante del espín del electrón NOTA: Es similar a la RMN pero se mide el espín del electrón. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: Los acrónimos en español para estos términos son respectivamente RPE, REE.

4.28 espectroscopia Mössbauer (Mössbauer spectroscopy)

emisión nuclear y absorción resonante de radiación gamma sin retroceso [Adoptada de ISO 921:1997, definición 764] 4.29 interferometría de polarización dual (dual polarization interferometry, DPI)

método en el cual la onda evanescente de un haz de luz láser se utiliza para explorar las capas adsorbidas a escala molecular en la superficie de una guía de onda NOTA 1: La polarización puede cambiarse rápidamente permitiendo mediciones en tiempo real de las reacciones químicas que ocurran en la superficie de un chip en un sistema con flujo continuo.


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NOTA 2: Se utiliza típicamente para medir cambios en la conformación de proteínas u otras biomoléculas cuando interactúan con su entorno. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es IPD.

5 TÉRMINOS RELATIVOS A LA MEDIDA DE OTRAS PROPIEDADES 5.1 Términos relativos a la medida de masa 5.1.1 pesado con micro-balanza de cristal de cuarzo (quartz crystal microbalance, QCM)

método en el que se mide el cambio de frecuencia de un resonador de cristal de cuarzo para determinar un cambio en la masa NOTA. Puede ser utilizado a vacío, en fase gaseosa o en ambientes líquidos. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 1: Se ha modificado la traducción literal del término original para mejorar la congruencia con su definición. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL 2: El acrónimo en español para este término es MCC.

5.1.2 termogravimetría, TG (thermogravimetry, TG)

método en el que se mide el cambio de masa de una muestra como una función de la temperatura mientras la muestra se somete a un programa de temperatura controlada 5.1.3 calorimetría diferencial de barrido (differential scanning calorimetry, DSC)

método en el que se mide la diferencia de aportes energéticos a una sustancia y a un material de referencia, como una función de la temperatura, mientras la sustancia y el material de referencia se someten a un programa de temperatura controlada NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es CDB.

5.2 Términos relativos a la medición de la cristalinidad 5.2.1 difractometría de rayos X (X-ray diffraction)


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método para obtener información cristalográfica de una muestra a través del análisis del patrón de difracción debido a la interacción de un haz de rayos X con la muestra NOTA: El método puede ser utilizado para estimar el tamaño de regiones de dispersión coherente. NOTA EXPLICATIVA NACIONAL. Se ha modificado la traducción del término original para mejorar la congruencia con su definición. 5.2.2 difracción de electrones retrodispersados (electron backscatter diffraction, EBSD)

difracción que se produce entre los electrones retrodispersados y los planos atómicos de una muestra cristalina colocada a un ángulo elevado respecto a la dirección de incidencia del haz estacionario de electrones que la ilumina [Adoptada de ISO 24173:2009, definición 3.7] NOTA EXPLICATIVA NACIONAL: El acrónimo en español para este término es DERP.

5.3 Términos relativos a mediciones de carga en suspensiones

5.3.1 velocidad electroforética

(electrophoretic velocity)

velocidad de la partícula (2.9) durante la electroforesis

NOTA: Las unidades de medida de la velocidad electroforética son m/s.

[Adoptada de ISO 13099-1:2012, definición 2.2.6] 5.3.2 movilidad electroforética (electrophoretic mobility)

velocidad electroforética por unidad de campo eléctrico aplicado

NOTA 1: La movilidad electroforética es positiva cuando las partículas (2.9) se

mueven hacia el potencial más bajo (electrodo negativo) y negativa en caso

contrario.

NOTA 2: Las unidades de medida de la movilidad electroforética son metros

cuadrados por volt - segundo, m2 / (V·s).

[Adoptada de ISO 13099-1:2012, definición 2.2.5]


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5.3.3 plano de deslizamiento; plano de corte

(slipping plane; shear plane)

plano imaginario en la vecindad de la interfaz líquido – sólido en la cual el líquido empieza a deslizarse respecto a la superficie sólida bajo la influencia de un esfuerzo cortante [Adoptada de ISO 13099-1:2012, definición 2.1.11] 5.3.4 potencial electrocinético; potencial zeta (electrokinetic potential; zeta potential)

diferencia de potencial eléctrico entre el plano de deslizamiento y el material a volumen NOTA. La unidad de medida del potencial electrocinético es el volt.

[Adoptada de ISO 13099-1:2012, definición 2.1.8]

5.3.5 densidad superficial de carga eléctrica

(electric surface charge density) carga eléctrica por unidad de área en una interfaz debida a la adsorción específica de iones de la fase líquida, o a la disociación de grupos en la superficie

NOTA: La unidad de medida de la densidad superficial de carga eléctrica es coulomb por metro cuadrado.

[Adoptada de ISO 13099-1:2012, definición 2.1.6] 6. VIGENCIA El presente proyecto de norma mexicana entrará en vigor 60 días naturales después de la

publicación de su declaratoria de vigencia en el Diario Oficial de la Federación. 7. BIBLIOGRAFÍA [1] ISO/TS 80004-1:2010, Nanotechnologies — Vocabulary — Part 1: Core terms

[2] ISO/TS 27687:2008, Nanotechnologies — Terminology and definitions for nano-objects — Nanoparticle, nanofibre and nanoplate

[3] ISO 14644-6:2007, Cleanrooms and associated controlled environments — Part 6: Vocabulary


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[4] ISO 15900:2009, Determination of particle size distribution — Differential electrical mobility analysis for aerosol particles

[5] ISO 4618:—2), Paints and varnishes — Terms and definitions

[6] ISO 26824:2013, Particle characterization of particulate systems — Vocabulary

[7] ISO 14644-1:1999, Cleanrooms and associated controlled environments — Part 1: Classification of air cleanliness

[8] ISO 3252:1999, Powder metallurgy — Vocabulary

[9] ISO 14966:2002, Ambient air — Determination of numerical concentration of inorganic fibrous particles — Scanning electron microscopy method

[10] ISO 9276-1:1998, Representation of results of particle size analysis — Part 1: Graphical representation

[11] ISO 14695:2003, Industrial fans — Method of measurement of fan vibration

[12] ISO 18115-1:2010, Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy

[13] ISO 13320:2009, Particle size analysis — Laser diffraction methods

[14] ISO 16014-1:2012, Plastics — Determination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exclusion chromatography — Part 1: General principles

[15] ISO 18115-2:2010, Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning probe microscopy

[16] ISO 17751:2007, Textiles — Quantitative analysis of animal fibres by microscopy — Cashmere, wool, speciality fibres and their blends

[17] ISO 29301:2010, Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

[18] ISO/TS 10797:2012, Nanotechnologies — Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy

[19] ISO 10934-2:2007, Optics and optical instruments — Vocabulary for microscopy — Part 2: Advanced techniques in light microscopy

[20] ISO 9277:2010, Determination of the specific surface area of solids by gas adsorption — BET method

[21] IEC 60050-845:1987, International Electrotechnical Vocabulary — Chapter 845: Lighting

[22] ISO 13943:2008, Fire safety — Vocabulary

[23] ISO 3497:2000, Metallic coatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods

[24] ISO 22309:2011, Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above


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[25] ISO 15202-3:2004, Workplace air — Determination of metals and metalloids in airborne particulate matter by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry — Part 3: Analysis

[26] ISO 472:2013, Plastics — Vocabulary

[27] ISO 921:1997, Nuclear energy — Vocabulary

[28] ISO 24173:2009, Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

[29] ISO 13099-1:2012, Colloidal systems — Methods for zeta-potential determination — Part 1: Electroacoustic and electrokinetic phenomena

8. CONCORDANCIA CON NORMAS INTERNACIONALES Este proyecto de norma mexicana no coincide con ninguna Norma Internacional por no

existir alguna sobre el tema tratado1.

1 No obstante, esta norma es idéntica a la ISO/TS 80004-6 :2013 Nanotechnologies —

Vocabulary —Part 6: Nano-object characterization.


37

ANEXO A

(informativo) ÍNDICE ALFABÉTICO

Término en español Término en inglés No. Acrónimo en español

Acrónimo original

aerosol aerosol 2.12 - -

aglomerado agglomerate 2.10 - -

agregado aggregate 2.11 - -

análisis de los gases desprendidos análisis de la evolución de gases

evolved-gas analysis 4.25 AEG EGA

área superficial específica por unidad de masa

mass specific surface area

3.6.1 - -

área superficial específica por unidad de volumen

volume specific surface area

3.6.2 - -

aspecto

relación de aspecto

aspect ratio 3.1.4 - -

calorimetría diferencial de barrido

differential scanning calorimetry

5.1.3 CDB DSC

clasificador por movilidad eléctrica diferenciada

differential electrical mobility classifier

3.3.2 CMED DEMC

contador de partículas por condensación

condensation particle counter

3.3.1 CPC CPC

cromatografía por exclusión de tamaño

size-exclusion chromatography

3.4.3 CET SEC

densidad superficial de carga eléctrica

electric surface charge density

5.3.5 - -

diámetro equivalente equivalent diameter 3.1.5 - -

diámetro hidrodinámico hydrodynamic diameter 3.2.6 - -

difracción de electrones retroproyectados

electron backscatter diffraction

5.2.2 DERP EBSD

difracción de neutrones neutrón diffraction 3.2.3 - -

difractometría de rayos X X-ray diffraction 5.2.1 - -


38

dispersión de luz light scattering 3.2.5 - -

dispersión de neutrones a ángulos pequeños

small angle neutrón scattering

3.2.2 DNAP SANS

dispersión de rayos X a ángulos pequeños

small angle X-ray scattering

3.2.4 DXAP SAXS

dispersión dinámica de luz espectroscopía de correlación de fotones dispersión cuasielástica de luz

dynamic light scattering photon correlation spectroscopy quasi-elastic light scattering

3.2.7 DDL PCS DCL

DLS QELS

distribución de tamaño de partícula

particle size distribution 3.1.2 - -

efecto Raman Raman effect 4.9 - -

electrómetro para aerosoles por copa de Faraday

Farady cup aerosol electrometer

3.3.4 EACF FCAE

electrón Auger Auger electron 4.15 - -

espectrómetro de electrones

electron spectrometer 4.13 - -

espectroscopia de absorción de rayos X

X-ray absorption spectroscopy

4.19 EAX XAS

espectroscopia de correlación de fluorescencia

fluorescence correlation spectroscopy

4.7 ECF FCS

espectroscopia de dispersión de energía de rayos X

energy-dispersive X-ray spectroscopy

4.21 EDEX EDS EDX

espectroscopia de electrones Auger

Auger electron spectroscopy

4.16 EEA AES

espectroscopia de energía perdida por electrones

electron energy loss spectroscopy

4.14 EEPE EELS

espectroscopia de fluorescencia

fluorescence spectroscopy

4.5 - -

espectroscopia de fotoelectrones por rayos

X-ray photoelectron spectroscopy

4.18 EFX XPS

espectroscopia de fotoelectrones ultravioleta

ultraviolet photoelectron spectroscopy

4.17 EFU UPS


39

espectroscopia de fotoluminiscencia

photoluminescence spectroscopy

4.4 EFL PL spectroscopy

espectroscopia de infrarrojo con transformada de Fourier

Fourier transform infrared spectroscopy

4.8 EIRTF FTIR

espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

inductively coupled plasma mass spectrometry

4.22 EM-PAI ICP-MS

espectrometría de masas de iones secundarios

secondary-ion mass spectrometry

4.23 EMIS SIMS

espectroscopia de resonancia magnética nuclear

nuclear magnetic resonance spectroscopy

4.26 RMN NMR spectroscopy

espectroscopia Mössbauer Mössbauer spectroscopy

4.28 - -

espectroscopia óptica optical spectroscopy 4.1 - -

espectroscopia Raman Raman spectroscopy 4.10 - -

espectroscopia Raman amplificada con una punta

tip-enhanced Raman spectroscopy

4.12 ERAP TERS

espectroscopia Raman amplificada por una superficie

surface enhanced Raman spectroscopy

4.11 ERAS SERS

espectroscopia UV-Vis UV-Vis spectroscopy 4.6 - -

fluorescencia fluorescence 3.5.12 - -

fluorescencia de rayos X, X-ray fluorescence 4.20 FRX XRF

forma de la partícula particle shape 3.1.3

fotoluminiscencia photoluminescence 4.3 FL PL

fraccionamiento del flujo por campo

field flow fractionation 3.4.1 FFC FFF

interferometría de polarización dual

dual polarization interferometry

4.29 IPD DPI

luminiscencia luminescence 4.2 - -

método Brunauer-Emmett-Teller

Brunauer-Emmett-Teller method

3.6.3 método BET

BET method

microscopía con electrones de baja energía

low energy electron microscopy

3.5.8 MEBE LEEM

microscopia de barrido por efecto túnel

scanning tunnelling microscopy

3.5.3 MBT STM


40

microscopía de contraste elipsométrico aumentado por la superficie

surface enhanced ellipsometric contrast microscopy

3.5.11 MCEAS SEEC microscopy

microscopía de fluorescencia

fluorescence microscopy

3.5.13 - -

microscopía de fluorescencia por reflexión interna total

total internal reflection fluorescence microscopy

3.5.14 MFRIT TIRF microscopy

microscopía de fuerza atómica

atomic force microscopy

3.5.2 MFA AFM

microscopía de super-resolución

super-resolution microscopy

3.5.15 - -

microscopía óptica confocal confocal optical microscopy

3.5.10 - -

microscopia de barrido con sonda óptica en campo cercano

near-field scanning optical microscopy scanning near-field optical microscopy

3.5.4 MOBCC NSOM SNOM

microscopía de barrido con electrones

scanning electron microscopy

3.5.5 MBE SEM

microscopía de barrido con iones

scanning ion microscopy

3.5.9

microscopía de barrido con sonda

scanning probe microscopy

3.5.1 MBS SPM

microscopía por localización

localization microscopy 3.5.16 - -

microscopía por transmisión con electrones

transmission electron microscopy

3.5.6 MTE TEM

microscopía por transmisión y barrido con electrones

scanning transmission electron microscopy

3.5.7 MTBE STEM

movilidad electroforética electrophoretic mobility 5.3.2 - -

nanobarra nanorod 2.5 - -

nanoescala nanoscale 2.1 - -

nanofibra nanofibre 2.6 - -

nano-objeto nano-object 2.2 - -

nanopartícula nanoparticle 2.3 - -

nanoplaca nanoplate 2.4 - -

nanotubo nanotube 2.7 - -


41

partícula particle 2.9 - -

pesado con micro-balanza de cristal de cuarzo

quartz crystal microbalance

5.1.1 MCC QCM

plano de deslizamiento plano de corte

slipping plane shear plane

5.3.3 - -

potencial electrocinético potencial zeta

electrokinetic potential zeta potential

5.3.4 - -

punto cuántico quantum dot 2.8 - -

radio de giro radius of gyration 3.2.1 - -

rastreo de nanopartículas rastreo de partículas

nanoparticle tracking analysis particle tracking analysis

3.2.8 RNP RP

NTA PTA

resonancia paramagnética electrónica resonancia de espín electrónico

electron paramagnetic resonance electron spin resonance

4.27 RPE REE

EPR ESR

sedimentación en líquidos por centrifugación sedimentación por centrifugación diferencial

centrifugal liquid sedimentatio differential centrifugal sedimentation

3.4.2 SLC SCD

CLS DCS

sensor eléctrico de zona contador Coulter

electrical zone sensing Coulter counter

3.4.4 - -

sistema de análisis por movilidad diferenciada

differential mobility analysing system

3.3.3 SAMD DMAS

suspensión suspension 2.13 - -

tamaño de partícula particle size 3.1.1 - -

termogravimetría thermogravimetry 5.1.2 TG TG

tomografía con sonda atómica

atom-probe tomography

4.24 - -

velocidad electroforética electrophoretic velocity 5.3.1 - -

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