Séptimas Semanas Nacionales de Cristalografía 2009 · Experimento de difracción de rayos X (DRX)...

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Séptimas Semanas Nacionales de

Cristalografía 2009

Informe de Actividades 2009

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REPORTE DE ACTIVIDADES

Las actividades académicas celebradas en las entidades federativas, fueron llevadas a cabo gracias a los comités organizadores locales presididos por cada uno de los Delegados Regionales y/o Representantes de División de Area representados ante la SMCr. Para el año del 2009, participaron:

Delegación / División de Area Representante

Jalisco Dr. Jorge Campa Molina (Universidad de Guadalajara)

Chihuahua/Mineralogía Dr. Víctor Manuel Malpica Cruz (IG-UNAM)

Querétaro Dr. Eric Rivera Muñoz (CFATA-UNAM)

Sinaloa Dra. Irma Araceli Belío Reyes (FO-UAS)

Tabasco Dr. Richard Falconi Calderón (UJAT)

La Mesa Directiva de la Sociedad Mexicana de Cristalografía se encargó de adecuar el programa académico, y de extender la invitación a todos los sectores interesados en la cristalografía.

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I. PROGRAMA ACADÉMICO División de Area de Mineralogía Del 24 al 26 de septiembre del 2009

Expedición Mineralógica-Cristalográfica (3 días): Mina de Naica, Chihuahua Expedición geológica, cristalográfica, mineralógica a la mina de Naica, propiedad de Servicios Industriales Peñoles S.A. de C.V., la cual esta siendo estudiada por especialistas de México, Francia e Italia. Se visitó el tiro que conduce a la bóveda llamada “Cueva de las Espadas”, en donde se encuentran cristales de yeso de gran envergadura, posiblemente los más grandes del mundo. Existen otros minerales en la mina, los cuales se podrán observar durante la visita a la mina.

Delegación Regional Querétaro Del 30 de noviembre al 1 de diciembre de 2009 Sede: Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada, UNAM Campus Juriquilla, Querétaro, Qro.

Curso (20 horas): Aplicaciones del Método de Rietveld Dr. Lauro Bucio, IF-UNAM M. en C. Patricia E. Altuzar Coello, Centro de Investigación en Energía, UNAM, Cuernavaca, Morelos

1. El fenómeno de difracción en un policristal.

a. Ley de Bragg. b. Experimento de difracción de rayos X (DRX) en un difractómetro. c. Identificación de fases cristalinas y las tarjetas almacenadas en el banco de

datos de la ICDD (Internacional Centre for Diffraction Data). d. Sesión Práctica: Identificación de fases cristalinas a partir del análisis de los

datos de DRX de una muestra desconocida (arcillas).

2. Mediciones experimentales. a. Caracterización del haz de rayos X incidente, del difractómetro Miniflex de

Rigaku, del laboratorio de rayos X del Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada, UNAM Campus Juriquilla, Querétaro.

b. Preparación y montaje de muestras. c. Obtención de difractogramas.

3. Métodos de refinamiento estructural: el método de Rietveld.

a. Principio del método. b. Modelos de estructuras cristalinas y bases de datos. c. Uso del banco de datos ICSD (Inorganic Crystal Structure Database). d. Ejemplos de aplicación del método Rietveld. e. Sesión Práctica: aplicación del método de Rietveld a casos específicos.

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4. Orientación Preferencial.

a. Función de Orientación Preferencial. b. Fórmula de Toraya. c. Fórmula de Marsh-Dollase. d. Sesión Práctica: refinamiento de dos casos de muestras con orientación

preferencial: yeso (de la mina de Naica, Chihuahua); placa de cobre.

5. Función de Resolución Instrumental. a. Función de resolución instrumental. b. Sesión Práctica: determinación de la función de resolución instrumental usando

hexaboruro de lantano como muestra estándar.

6. Análisis Microestructural. a. Efectos de la microestructura en la anchura de las reflexiones: Ecuación de

Scherrer, Fórmula de Stokes y Wilson. b. Análisis microestructural en el método de Rietveld. c. Sesión Práctica: aplicación del método de Rietveld a casos específicos.

Bibliografía

1. R.A. Young. The Rietveld Method. International Union of Crystallography. 2. Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij. Fundamentals of Powder Diffraction and

Structural Characterization of Materials. Kluwer Academic Publishers. 3. L. Fuentes. El Método Rietveld. Sociedad Mexicana de Cristalografia. 4. Inorganic Crystal Structure Database (ICSD) ©2009. Fachinformationszentrum

Karlsruhe, and the U.S. Secretary of Commerce on behalf of the United States. 26-06 (1998).

Asistentes: 12

Delegación Regional Tabasco Del 4 al 5 de diciembre de 2009 Sede: División Académica de Ciencias Básicas, Universidad Juárez Autónoma de Tabasco

Constitución de la Delegación Regional Tabasco 4 de diciembre del 2009

1. Presentación del objeto social y actividades de la Sociedad Mexicana de Cristalografía A.C.

2. Acto de constitución de la Delegación Regional Tabasco.

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Curso (10 horas): Difracción de Rayos X en Policristales (10 horas) Dr. Lauro Bucio Galindo, Instituto de Física, UNAM

1. Métodos de refinamiento estructural: el método de Rietveld.

a. Principio del método. b. Modelos de estructuras cristalinas y bases de datos. c. Uso del banco de datos ICSD (Inorganic Crystal Structure Database). d. Ejemplos de aplicación del método Rietveld. e. Sesión Práctica: aplicación del método de Rietveld a casos específicos.

2. Función de Resolución Instrumental.

a. Función de resolución instrumental. b. Sesión Práctica: determinación de la función de resolución instrumental usando

hexaboruro de lantano como muestra estándar.

3. Análisis Microestructural. a. Efectos de la microestructura en la anchura de las reflexiones: Ecuación de

Scherrer, Fórmula de Stokes y Wilson. b. Análisis microestructural en el método de Rietveld. c. Sesión Práctica: aplicación del método de Rietveld a casos específicos.

Bibliografía

1. R.A. Young. The Rietveld Method. International Union of Crystallography. 2. Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij. Fundamentals of Powder Diffraction and

Structural Characterization of Materials. Kluwer Academic Publishers. 3. L. Fuentes. El Método Rietveld. Sociedad Mexicana de Cristalografia.

Asistentes: 25

Delegación Regional Sinaloa Del 10 al 11 de diciembre de 2009 Sede: Auditorio del Centro de Ciencias de Sinaloa, Culiacán, Sinaloa.

Curso corto de Microscopía de Fuerza Atómica Roberto Hernández Reyes, Instituto de Física, UNAM

1. Técnicas.

a. Microscopia de Tunelaje de Barrido (STM). b. Microscopia de Fuerza atómica (AFM). c. AFM de contacto. d. AFM sin contacto.

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e. AFM de contacto intermitente. f. Microscopia de fuerza magnética. g. Microscopia de fuerza lateral. h. Microscopia de fuerza electrostática. i. Nanolitografía. j. Otras técnicas.

2. La unidad de barrido. a. Diseño y operación de la unidad de barrido. b. Técnicas ópticas. c. Geometría.

3. Sondas.

a. Cantilevers. b. Propiedades de los cantilevers. c. Forma de la punta y resolución. d. Como seleccionar una sonda. e. Manejo de la sonda.

4. Aplicaciones diversas.

Curso corto de Microscopía de Fuerza Atómica (manejo del intrumento) Carlos Flores, Instituto de Investigaciones en Materiales, UNAM

5. Presentación del microscopio de AFM (videoconferencia)

a. Manejo del microscopio del Instituto de Investigaciones en Materiales. b. Preparación de muestras y su montaje en el microscopio. c. Observación y comentarios durante la observación de muestras selectas. d. Preguntas y respuestas.

Asistentes: 20

Curso (10 horas): Aplicaciones de la Difracción de Rayos X (4 horas) Dr. Lauro Bucio Galindo, Instituto de Física, UNAM

1. El fenómeno de difracción en un policristal.

a. Ley de Bragg. b. Experimento de difracción de rayos X (DRX) en un difractómetro. c. Identificación de fases cristalinas y las tarjetas almacenadas en el banco de

datos de la ICDD (The Internacional Centre for Diffraction Data). d. Sesión Práctica: Identificación de fases cristalinas a partir del análisis de los

datos de DRX: análisis de cementos y materiales de interés en odontología.

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2. Indexación de Difractogramas: determinación del sistema cristalino, red de Bravais y parámetros reticulares.

a. Métodos sencillos de indexación. b. Contenido de átomos en la celda unidad. Medida práctica de densidad. d. Sesión Práctica: indexación de patrones de difracción en unos casos sencillos;

determinación del sistema cristalino, red de Bravais y número de fórmulas en la celda unidad: caso de cloruro de sodio.

e. Uso del banco de datos ICSD (Inorganic Crystal Structure Database). 3. Análisis Microestructural.

a. Efectos de la microestructura en la anchura de las reflexiones: Ecuación de Scherrer, Fórmula de Stokes y Wilson y Gráficas de Williamson-Hall.

b. Sesión Práctica: Gráfica de Williamson-Hall para datos de una muestra de aleación metálica.

Bibliografía

1. R.A. Young. The Rietveld Method. International Union of Crystallography. 2. Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij. Fundamentals of Powder Diffraction and

Structural Characterization of Materials. Kluwer Academic Publishers. 3. L. Fuentes. El Método Rietveld. Sociedad Mexicana de Cristalografia.

Asistentes: 12

Delegación Regional Jalisco Del 14 al 16 de diciembre de 2009. Sede: Hotel Misión Carlton Guadalajara, Jalisco.

Coloquio: CRISTALOGRAFÍA, BIOMINERALES Y BIOMATERIALES

Conferencias Invitadas

1. Síntesis y caracterización de materiales a base de hidroxiapatita: materiales compuestos orgánico-inorgánico y nanopartículas crecidas sobre geles de sílice. Eric M. Rivera Muñoz. CFATA-UNAM.

2. Biomateriales para la reconstrucción ósea. Cristina Piña Barba. IIM-UNAM.

3. Crecimiento de cristales. Edilberto Hernández Juárez. IF-UNAM.

4. Resinas naturales: propiedades físicas y usos como biomateriales. Irma A. Belío Reyes. Facultad de Odontología, Universidad Autónoma de Sinaloa.

5. Biosensores del campo magnético terrestre. Jorge Campa Molina. Universidad de Guadalajara.

6. Estudio de los materiales biogénicos a través de SAXS. Manlio Favio Salinas. ENCRYM.

7. El hueso: un biomineral de interés en Arqueología y Medicina. Lauro Bucio. IF-UNAM.

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8. Degradación de poliuretanos segmentados para usos cardiovasculares. Juan Valerio Cauich Rodríguez. Centro de Investigación Científica de Yucatán.

9. Materiales en oftamología. Roberto Quintero Castañón. ISSSTE-Zaragoza.

10. Estudio de la estructura y del proceso de biomineralización de la concha del Nautilus. Rodrígo Velásquez Castillo. Universidad Autónoma de Querétaro.

11. Fenómenos de transporte y su importancia en sistemas biológicos. José Chávez Carvayar. Instituto de Investigaciones en Materiales, UNAM.

Asistentes: 40

Propuesta para la creación de la Sociedad Mexicana de Biomateriales y Biominerales 15 de diciembre del 2009

II. MATERIAL DIDACTICO Y PUBLICACIONES El material que estuvo a disposición del público asistente se ilustra a continuación:

1. Mineralogía. Elizabeth Araux Sánchez, Ricardo Vega Granillo© SMCr 2009, 160 pp. ISBN en trámite.

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2. Principios del Método Rietveld y sus aplicaciones. Lauro Bucio © SMCr 2009, 160 pp. (se incluye CD).

III. LOS EVENTOS EN IMAGENES División de Area de Mineralogía

Expedición a la mina de Naica, Chihuahua 

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SÉPTIMAS SEMANAS NACIONALES 2009

h t t p : / / w w w . s m c r . f i s i c a . u n a m . m x Presidente: Dr. Lauro Bucio Galindo, Instituto de Física, UNAM. Cd. Universitaria, Apdo. Postal 20-364, 01000 México, D.F. , MEXICO. Tel. (55) 56 22 50 12, Fax (55) 56 22 50 11, E. mail: [email protected] Presidente Inmediato Anterior: Dr. José Luis Boldú Olaizola, Tel. (55) 56 22 51 10, Fax (55) 56 22 50 11, E. mail: [email protected]. Secretario General: M. en C. Jorge Ornelas Tabares, Tel: (55) 56 22 08 55, E. mail: [email protected] Secretario Adjunto: Dr. Eduardo Horjales Reboredo, Tel. (55) 56 22 76 16, (777) 329 16 16 E. Mail: [email protected] Secretario de Relaciones Públicas: M. en C. Miguel Hesiquio Garduño , Tel: (55) 57 29 60 00 ext. 55003, E.mail: [email protected] Tesorera: Dra. Norma Eugenia García Calderón, Tel: (55) 56 22 49 22, E. mail: [email protected] Primer Vocal: Dr. Jorge Rickards Campbell, Tel: (55) 56 22 50 65, E. mail: [email protected] Segundo Vocal: Dr. Ricardo Rodríguez Mijangos, Tel: (662) 259 21 56 E. mail: [email protected]

Delegación Regional Querétaro

Izquierda:  experimentos para difracción de rayos X en el Laboratorio de rayos X de CFATA, UNAM Juriquilla.  

Derecha: Sesión de trabajo de refinamiento de datos de difracción por el método de Rietveld. Delegación Regional Tabasco

Sesión donde se constituyó la delegación Regional Tabasco de la Sociedad Mexicana de Cristalografía en el auditorio de 

la División Académica de Ciencias Básicas de la Universidad Juárez Autónoma de Tabasco, Campus Cunduacán. 

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h t t p : / / w w w . s m c r . f i s i c a . u n a m . m x Presidente: Dr. Lauro Bucio Galindo, Instituto de Física, UNAM. Cd. Universitaria, Apdo. Postal 20-364, 01000 México, D.F. , MEXICO. Tel. (55) 56 22 50 12, Fax (55) 56 22 50 11, E. mail: [email protected] Presidente Inmediato Anterior: Dr. José Luis Boldú Olaizola, Tel. (55) 56 22 51 10, Fax (55) 56 22 50 11, E. mail: [email protected]. Secretario General: M. en C. Jorge Ornelas Tabares, Tel: (55) 56 22 08 55, E. mail: [email protected] Secretario Adjunto: Dr. Eduardo Horjales Reboredo, Tel. (55) 56 22 76 16, (777) 329 16 16 E. Mail: [email protected] Secretario de Relaciones Públicas: M. en C. Miguel Hesiquio Garduño , Tel: (55) 57 29 60 00 ext. 55003, E.mail: [email protected] Tesorera: Dra. Norma Eugenia García Calderón, Tel: (55) 56 22 49 22, E. mail: [email protected] Primer Vocal: Dr. Jorge Rickards Campbell, Tel: (55) 56 22 50 65, E. mail: [email protected] Segundo Vocal: Dr. Ricardo Rodríguez Mijangos, Tel: (662) 259 21 56 E. mail: [email protected]

Curso sobre difracción de rayos X en policristales 

Delegación Regional Sinaloa

Izquierda: curso sobre difracción de rayos X en policristales.  Derecha: transmisión virtual de operación del microscopio 

de fuerza atómica del Instituto de Investigaciones en Materiales.

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Curso sobre microscopia de fuerza atómica 

Curso sobre microscopia de fuerza atómica 

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Delegación Regional Jalisco

Coloquio Cristalografía, Biominerales y Biominerales: conferencias invitadas 

Coloquio Cristalografía, Biominerales y Biominerales: conferencias invitadas y sesión de carteles. 

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Coloquio Cristalografía, Biominerales y Biominerales: conferencias invitadas 

Coloquio Cristalografía, Biominerales y Biominerales: visita a la mina de ópalo 

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Agradecimiento al apoyo de SEP La SMCr, agradece enormemente el apoyo financiero que la Secretaría de Educación Pública a través de la Dirección General de Educación Superior (programa PADES) nos ha brindado para la organización de estos eventos que fueron realizados durante 2009 en diferentes partes de nuestro país e incluso algunos de ellos videotransmitidos aprovechando las nuevas tecnologías de videoconferencias y Laboratorios compartidos vía Internet. Su ayuda ha sido de importancia fundamental para la divulgación de la ciencia y la tecnología en temas asociados con la cristalografía, lo cual redundara indudablemente en la formación científico-tecnológica de las nuevas generaciones de nuestro país. VI. ORGANIGRAMA DE LA SOCIEDAD MEXICANA DE CRISTALOGRAFÍA A.C. Delegaciones Regionales Baja California Dr. Gerardo Aguirre Hernández (IT Tijuana) Chihuahua Dr. Luis Fuentes Cobas (CIMAV) Guanajuato Dr. Luis Armando Díaz Torres (CIO) Hidalgo Dr. José Guadalupe Alvarado R. (CIQ, UAEH) Jalisco Dr. Jorge Campa Molina (U. De G.) Michoacán Dra. Ma. Eugenia Contreras García (IIM, UMSNH) Nuevo León Dra. Cecilia Rodríguez González (FCQ, UANL) Puebla Dra. Ma. Eugenia Mendoza Álvarez (IFUAP) Querétaro Dr. Eric Mauricio Rivera Muñoz (CFATAUNAM) San Luis Potosí Dr. Miguel Angel Vidal B. (IICO, UASLP) Sinaloa Dra. Irma Aracelí Belío Reyes (FO, UAS) Sonora Dr. Ricardo Rodríguez Mijangos (CIFUS, UNISON) Yucatán Dra. Patricia Quintana Owen(CINVESTAV, IPN) Divisiones de Area Mineralogía Dr. Víctor Manuel Malpica Cruz (IG UNAM) Suelos Dr. Otilio A. Acevedo Sandoval (UAEH)

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V. APOYOS ESPECIALES

Centro de Ciencias de Sinaloa Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología

Dirección General de Educación Superior, Programa PROADU Secretaría de Educación Pública

Universidad de Guadalajara Universidad Juárez Autónoma de Tabasco

Universidad de Sonora Centro de Investigación en Física Departamento de Ingeniería Civil y Minas

Universidad Nacional Autónoma de México Instituto de Investigaciones en Materiales Instituto de Física

VI. EMPRESAS PATROCINADORAS

Spectramex S. A. de C. V.