SimulacionCap06
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Carrera de Ingeniería de Sistemas
Autor: Ramiro Durán Quiroga
© 2007 Centro de Investigación Ingeniería de Sistemas UMSFXCH
Capítulo VIModelo de Control de Calidad
A. Ramiro Duran Quiroga
© 2007 Centro de Investigación Ingeniería de Sistemas UMSFXCH
Descripción
• Conjunto de medios y procedimientos para medir y mantener la calidad de los productos.
• Buscar el equilibrio entre una buena calidad a un costo aceptable.
• Control de la calidad es muestral o total.• Los criterios de aceptación o rechazo son
particulares.
© 2007 Centro de Investigación Ingeniería de Sistemas UMSFXCH
Variables Control de Calidad
• Variables exógenas:• Producción total.• Muestra inspeccionar.• Cantidad mínima aceptada.• Costos (defectuosos, rechazo, inspección, etc.)
• Variables estado:• Unidades defectuosas.• Estado artículo (aceptado/rechazado).• Estado línea producción.
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Carrera de Ingeniería de Sistemas
Autor: Ramiro Durán Quiroga
© 2007 Centro de Investigación Ingeniería de Sistemas UMSFXCH
Parámetros Control de calidad
• Variables endógenas:• Costo total del sistema.• Total unidades defectuosas.• Costo de aceptación.• Costo de rechazo.
• Parámetros:• De la probabilidad de rechazo de una unidad.• Del número de aceptados antes de un rechazo.
© 2007 Centro de Investigación Ingeniería de Sistemas UMSFXCH
Relaciones Funcionales
• Relaciones funcionales:• CtoRech : Costo rechazar muestra, si el número de
defectuosos es mayor al mínimo aceptado.• CtoAcep : Costo aceptar muestra, si no existen defectuosos
o la cantidad es menor al mínimo aceptado.• CtoInsp : Costo asociado con la inspección de la muestra
(proceso, personal, equipos, etc).• Costo = CtoInsp + CtoRech +CtoAcep
© 2007 Centro de Investigación Ingeniería de Sistemas UMSFXCH
Algoritmo
1. Leer variables exógenas ; Costo=02. Ciclo i=1 .. NumSim3. n=producción(); m=muestra()4. p=prob_rechazo(); NumDef=05. Ciclo k=1 .. m6. Si (r<p) NumDef ++
Fin Ciclo k7. Costo = CtoInsp8. Si (NumDef > MinAcep) Costo += CtoRech
Sino Costo += CtoAcepFin Ciclo i
9. Costo = Costo / NumSim