Presentacion Norma UNE 148002

7/26/2019 Presentacion Norma UNE 148002

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Proyecto de Norma sobre Control de la Componente

Posicional

AEN/CTN 148

Asociacin Espaola de Normalizacin

Comit Tcnico Normalizacin 148

Informacin Geogrfica AEN/CTN 148

Proyecto de normasobre control de la

componenteposicional de losdatos espaciales

Presentacin del proyecto de normaUNE 148002

Madrid

29 Septiembre, 2014

AEN/CTN 148

Madrid Septiembre de 2014

Ponente

2Proyecto de norma sobre evaluacin de la componente posicional los datos espaciales

Francisco Javier Ariza Lpez

[email protected]

953 212 469

Universidad de Jan

w w w .u j a e n .e s

Departamento de Ingeniera Cartogrfica, Geodsica y FotogrametraEscuela Politcnica Superior / Campus de las Lagunillas S/N / 23.071 Jan


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Posicional

AEN/CTN 148

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Objetivos

Presentar cmo se ha llegado a esta propuesta

Dar a conocer los aspectos relevantes del mtodo(ISO 2859, Modelo Acoplado)

Dar a conocer los aspectos relevantes de la

propuesta de norma y repasarla al completo


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Contenido/Programa

Introduccin conceptos

Anlisis y problemtica de los MCPxP

ISO 2859-1 e ISO 2859-2

Iso 2859-1 e ISO 2859-2

Adecuacin para el caso de errores posicionales

Dos ejemplos de aplicacin al caso posicional

Pros y contras de adoptar ISO 2859-1 e ISO 2859-2

Revisin de la propuesta de norma 148002



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Posicional

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Importancia renovada por las nuevas tcnicas de

posicionamiento (GNS, GPS, INS, etc.). Posicionamiento

preciso.

Importancia de nuevas tcnicas de captura (LIDAR, etc.).

Captura ms precisa, datos no normales.

Importancia renovada por las exigencias de interoperabilidad

de los CDE debido a las IDE. Uso preciso.

Aplicaciones continentales y sin costuras/roturas.

Posicionamiento absoluto.

Programas de mejora de la componente posicional

(PAI): Alemania, Australia, EEUU, Francia, Reino Unido, Suiza

Revisin de las normas de control posicional.

Importancia de la posicin

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Importancia

Proyecto de norma sobre evaluacin de la componente posicional los datos espaciales

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Forma de referir a la situacin de los objetos en el espacio.

La forma de posicionamiento que nos interesa se denomina

posicionamiento directo o por coordenadas (ISO 19111),

en contraposicin al posicionamiento indirecto o por

identificadores geogrficos (ISO 19112).

En este caso se necesita un sistema para referir las

coordenadas (datum, elipsoide, meridiano, etc.).

Qu es la posicin?

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Conceptos



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Posicional

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Conceptos

Error: La discrepancia entre dos valores que se supone deberanser iguales.

Posibles errores: Groseros o equivocaciones eliminacin, mtodo que

reduzca la posibilidad de ocurrencia.

Sistemticos (Sesgos) (constantes o variables) correccin(modelos que consideren su participacin).

Aleatorios No son eliminables pero se debeacotar/determinar la variabilidad del proceso.

Error e incertidumbre

iii mty yye

iii mtx xxe

iii mtz zze


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Incertidumbre

Al realizar mediciones los valores obtenidos y asignados a la medidadiferirn probablemente del valor verdadero debido a causasdiversas.

El valor verdadero es un concepto puramente terico yabsolutamente inaccesible.

En el proceso de medicin nicamente puede pretender estimar, deforma aproximada, el valor de la magnitud medida.

El resultado de cualquier medida es siempre incierto y a lo ms quepodemos aspirar es a estimar su grado de incertidumbre.

Se debe hablar de incertidumbre

Conceptos




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Posicional

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Incertidumbre: Parmetro no negativo que caracteriza la dispersin de valores atribui dos

a un mensurando [VIM, 2007].

Error: Diferencia entre un valor m edido de una magnitud y un valor de referencia (valor

convencional o valor verdadero) [VIM, 2007]

Exactitud: Grado de acuerdo entre el resultado de una prueba y el valor de referencia

aceptado [ISO 3534-1]

Exactitud = veracidad + precisin

Veracidad: Proximidad entre la media de un nmero fini to de valores medidos r epetidos yun valor de referencia.

Precisin: Proximidad entre las indicaciones o los valores medidos obtenidos en

mediciones repetidas de un mism o objeto o de objetos similares bajo condiciones

especficas.

ConceptosError e incertidumbre


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Conceptos

Preciso y verazPreciso pero

poco veraz

Veraz

pero un atpico

verazo

Preciso y veraz

pero con un

atpico

Situacin

ideal

Calidad: Adecuacin al usoPrecisin y veracidadadecuada al propsito

ni ms, ni menos!! !




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Posicional

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Otros modelos en los errores

LIDAR (Maune, 2007): Sin modelo paramtrico base Digitalizacin manual (Bolstad et al 1990): BimodalDigitalizacin (Tong & Liu, 2004): p-norm (Normal + Laplace)Geocodificacin (Cayo and Talbot 2003; Karimi and Durc ik 2004, Whitsel et al.2004): Log normal

Observaciones GNSS (Wilson, 2006; Logsdon, 1995): Raleigh, Weibull Otros modelos mencionados: Normal plegada, Half normal, Gamma

Control posicional

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Modelo base

Para todo: Normal

Numerosos estudios indican que NO esta hiptesis no es cierta

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Desde la perspectiva de la calidad:

Evaluacin: Determinar el nivel de calidad de un producto, seda un resultado sin juicio de aceptacin o rechazo.

Control: Determinar si el nivel de calidad del producto alcanzalas especificaciones, se da un juicio sobre si se acepta orechaza el producto.

Desde la perspectiva estadstica:

Estimacin: Determinar un valor de manera fiable.Contraste: Determinar si se cumple una condicin de manerafiable

Control posicional

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Perspectivas



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Posicional

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Resultado = VM FE

Donde:

VM

Valor medido

FE Factor de expansin (p.e. 95%)

Grado de dispersin

Control posicional

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Perspectivas: Estimacin


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Se p lantea una h iptes is y se deben encontrar ev idenc ia para su

rechazo (in dubio pro reo)

H0 (Hiptesis Nula). Es la que se considera como

base. En su formulacin incluye un signo = .

H1 (Hiptesis Alternativa). Es la alternativa al

cumplimiento de H0.

Para la toma de la decisin:

Se adopta un valor de significacin Se construye una funcin de decisin Se compara el resultado de la funcin de decisin con

x

xx

S

net

,1 nx tt

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Perspectivas: Control


Control posicional


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Posicional

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Ejemplo 1:

H0. Los datos son Normales (0, 2)

H1. Los datos no son normales (0, 2).

Ejemplo 2:

H0: 5

H1:


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Posicional

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Modelo base de los errores

El modelo asumido es el NORMAL

Algunas veces es explc ito y otras no tanto.

Otras hiptesis que se han de cumpli r son:

aleatoriedad

ausencia de atpicos

independencia

Control posicional

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Anlisis de los MCPxP


Por lo general nadie las

comprueba!!!

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M.Francs

ISO

3951

Elipse,

Etc

Control posicional

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MCPxP



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Posicional

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M.Francs

ISO

3951

Elipse,

Etc

Control posicional

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MCPxP


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Metadatos

No suelen existir.

Escasos.

No adecuados al proceso. No hay un in forme normalizado

Control posicional

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MCPxP



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Posicional

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Simulacin

Se trabaja con datossintticos.

Valores Normales N(0,1). Sin autocorrelacin. Bien distribuidos

(espacialmente).

Sin contaminacin.Los MCPP se pueden analizar desde dos perspectivas: Como reglas de aceptacin Como estimadores de la propiedad de la poblacin por medio de la muestra.

Control posicional



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Anlisis por simulacin delos mtodos usuales decontrol posicional porpuntos (MCPP) y delos mtodos de controlde atpicos (MCA)

Tabla de casos analizados (MCPP x MCA)

MCPP /MCA

Ninguno KSigmas Stanag ISO Franceses

PERCENTIL

X X X X X

NMAS X X X X X

EMAS X X X X X

ASPRS X X X X X

NSSDA X X X X X

ELIPSE X X X X X

FRANCS

X X X X X

STANAG X X X X X

ISO X X X X X

Control posicional




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Posicional

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Simulacin de muestrasSimulacin de poblaciones

Control posicional



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Estimacin xy para los casos quepasan en cada mtodo (eje verticalmetros, eje horizontal tamao demuestra) (100Mx20P, Ninguno)

Precisin de la estimacin de xypara los casos que pasan en cada

mtodo (eje vertical metros, ejehorizontal tamao de muestra)

(100Mx20P, Ninguno)

Trabajan de manera

bastante similar

Control posicional



OJO!!: La estimacinrequiere grandes

tamaos de muestra


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Posicional

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Comparacin de los MCPP en la aceptacin (eje vertical probabilidad aceptacin,

eje horizontal tamao de muestra) (100Mx20P, Ninguno)

No trabajan igual

No son comparables en laaceptacin/rechazo

Control posicional



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Necesidad de estadistizar los mtodos, es

decir, convertirlos en contrastes.

Propuesta Aplicar ISO 2859

Control posicional




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Posicional

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Aspectos a veri ficar en un producto:

Cuantitativos: variables , medibles, con patrones y tcnicasestadsticas generalizadas (Ej.: error posicional de 5 m).

Caractersticas m edibles.

Ms informacin que el de atributos.

Fases: muestreo, medicin, anlisis estadstico.

Posibilidad de conversin de variable cuantitativa a cualitativa.

Cualitativos: atributos , presencia / ausencia de una

caracterstica (Ej.: doblado correcto de una hoja del mapa). Se emplean tablas.

Normal MIL STD 105D, proc edimi ento DODGE-ROMIG, proc edimi ento PHILIPS...

ISO 3951

ISO 2859

ISO 2859

Introduccin


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ISO 2859

Introduccin



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Posicional

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ISO 2859

Introduccin


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Estimular al proveedor para mantener una media de proceso comomnimo tan buena como el NCA especificado, a la vez queproporcionar un lmite superior para el riesgo del cliente de aceptarocasionalmente un lote deficiente.

Estas normas son de aplicacin:

Elementos finales.

Componentes y materias primas.

Actividades.

Materiales en proceso.

Operaciones de mantenimiento.

Existencias en almacn.

Datos o registros.

Procedimientos administrativos.

ISO 2859-1

Objetivo



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Posicional

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Se aplican en :

Recepcin de productos de un sumin istrador externo.

En el paso de una operacin de produccin a ot ra(aprovisionamiento interno).

Antes de entrada en almacenes.

Antes del envo al c liente.

Objetivos:

Obtener buenos materiales.

Optimizar costes de calidad.

Detectar defectuosos.

Informar al proveedor para que mejore.

ISO 2859-1

Campo


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No conformidad es el incumplimiento de un requisito especificado.

Defecto es el incumplimiento de un requisito asociado a una

utilizacin prevista.

Elemento no conforme es aquel con una o ms no conformidades.

No conforme posicional

ISO 2859-1

Defecto y no conformidad



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Posicional

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Diferentes tipos de defectos, segn su trascendencia en el uso delproducto.

Defectos crticos: Impiden funcionamiento del producto final,causan situaciones de riesgo o inseguridad en el uso. P.e.: mala

georreferenciacin

Defectos mayores: No son crti cos pero generan fallos, averas,disminuyen apreciablemente la uti lidad del producto.P.e.:defectos en las correcciones radiomtricas y ajuste de

histogramas.

Defectos menores: No afectan de manera sensible a la util idaddel producto . P.e.: falta de identificacin de los puntos de

control en la ficha de cada imagen.

ISO 2859-1

Defecto y no conformidad


AEN/CTN 148


Cantidad definida de algn producto, material o servicio, que

comparte unas circunstancias que permiten entender que su

calidad es homognea (elementos de un tipo, grado, clase,

tamao, composicin, producidos bajo condiciones uniformes y

esencialmente en el mismo periodo de tiempo)

ISO 2859-1

Lote



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Posicional

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El plan de muestreo se define mediante:

Magnitud del lote (lote homogneo).

Nivel de inspeccin.

Tipo de muestreo: simple, doble o triple

% de defectuosos aceptable.

Se deducirn:

Tamao de la muestra.

N mximo de unidades defectuosas que se admiten (Ac) encada fase del muestreo .

Curva operativa.

En las normas un plan de muestreo es: Tamao de muestra y valor deaceptacin

ISO 2859-1

Plan de aceptacin por muestreo


AEN/CTN 148


Son el conjunto de caractersticas que ha de cumplir el muestreo

para asegurar unos valores con un sentido estadstico

determinado y que sean asumidos por el productor y el

cliente.

Supone un compromiso entre los costes derivados de la

inspeccin y los que se originan por la no-calidad de los lotes

aceptados (orientado a maximizar beneficios, minimizar

prdidas).

Permite aplicar diferentes severidades de inspeccin (normal,

rigurosa, reducida), con los que se trata de ajustar el control

a las circunstancias.

ESQUEMA DE MUESTREO: Combinacin de planes de muestreo

con reglas de cambio entre planes. Las normas proporcionan

ESQUEMAS. Sin la aplicacin de las reglas de cambio no

protegen

ISO 2859-1

Plan de aceptacin por muestreo



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Posicional

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1

DR = 0

DR = 1

DR = 2

DR = 3

DR = 4

DR = 5

Aceptacin en inspeccin 100%

Si DR


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Posicional

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Es el parmetro que indexa el sistema.

(NCA) Nivel de calidad que representa la peor media tolerable del

proceso cuando una serie continua de lotes es controlada. Por

tanto es el peor Nivel medio de Calidad Aceptable

NOTE1 This concept only appl ies when a sampling scheme wi th rules for switching and for discontinuation, such as in

ISO 2859-1or ISO 3951, is used.

NOTE 2 A lt hough i nd iv idua l l ot s w it h qua li ty as bad as t he acceptance qua li ty l im it may be accepted w it h f ai rl y h igh

probabi l i ty, the designation of an acceptance quality l imit does not suggest thatthis is a desirable quali ty level. Sampling

s ch em es f ou nd i n In ter nat io nal St an dar ds s uc h as t hi s p ar t o f ISO 2859, w it h t hei r r ul es f or s wi tc hi ng an d f or

discont inuat ion of sampling inspect ion, are designed to encourage suppl iers to have process averages consistent lybet ter than the AQL. Otherwise, thereis a high r isk that the inspect ion sever i ty wi ll be switched to t ightened inspect ion

under which thecri teria for lot acceptance become moredemanding.Once on tightened inspection,unless action is taken

t o i mprove t he process , i t i s very l ikel y t ha t t he rul e requi ri ng d iscont inua ti on o f sampl ing i nspect ion pendi ng such

improvement wil lbe invoked.

ISO 2859-1

Nivel de calidad aceptable / limite para la calidad aceptable


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ISO 2859-1

Nivel de calidad aceptable



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Posicional

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ISO 2859-1

Proceso


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La aceptacin de un lo te debe determinarse por el uso de planes de muestreo.

El NCA es un parmetro del esquema de muestreo y no debera confundi rse

con la media del proceso que describe el nivel operativo del proceso de

fabricacin.

Se espera que la media del proceso sea mejor que el NCA para evitarexcesivos rechazos (capacidad del proceso).

Los lotes no aceptados pueden ser:

Desechados

Clasificados (cono s in reposicin de elementos no conformes)

Reprocesados

Reevaluados (con relacin a criterios de uso ms especficos)

Retenidos a la espera de ms informacin

ISO 2859-1

Proceso



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Posicional

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AEN/CTN 148


Las unidades no conformes encontradas, con independencia de si pertenecena la muestra o no, pueden ser rechazadas.

La consideracin de dos o ms categoras de no conformidades suele requerir

la utilizacin de un conjunto de planes de muestreo que tienen un tamao demuestra comn pero di ferentes nmeros de aceptacin para cada NCA.

Lotes rechazados y presentados a nueva inspeccin: no deben analizarse en

una nueva inspeccin hasta que todas las unidades sean examinadas o

ensayadas y el suministrador est seguro de que todas las un idades noconformes han sido eliminadas o reemplazadas por unidades confo rmes o

corregidas de su defecto.

ISO 2859-1

Proceso


AEN/CTN 148


Muestreo aleatorio simple

Si hay sublotes o estratos muestreo estratificado.

ISO 2859-1

Proceso



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Posicional

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AEN/CTN 148


Nivel de inspeccin: Indica la cantidad relati va de inspeccin. Se elige para el

proceso y NO SE CAMBIA.

Niveles generales de inspeccin (I, II, III): Con carcter general se debe usar el

nivel II. Se usarn los niveles I y III cuando se requiera una menor o mayor

discr iminacin. Sus tamaos respecto al nivel I estn en el orden de y de

1 respectivamente.

Niveles especiales de inspeccin (S1 S4): Se usan cuando sean necesarios

niveles de muestra relativamente pequeos y puedan o deban tolerarse

mayores riesgos en el muestreo.

Si para la categora de no conformidad se obtiene un tamao distinto , se puede

utilizar el correspondiente al mximo muestreo aleatorio simple

ISO 2859-1

Proceso


AEN/CTN 148


Los procedimientos o reglas de cambio entre tipos de (severidad de)

inspeccin (normal, reducida o rigurosa) deben aplicarse

independientemente a cada clase de no conformidades o de elementos no

conformes y dentro de cada nivel de inspeccin que se est utilizando (I, II,

III).

Rigurosa: Se cambian los criterios de aceptacin.

Reducida: Se reduce el tamao

Criterios de pasos entre tipos de severidad de inspeccin

De A Criterio

ReducidaNormal

RigurosaNormal

NormalRigurosaNormal

Reducida

Se obtiene un rechazoDos (2) lotes de cinco (5) consecutivos rechazadosCinco (5) lotes consecutivos sin rechazoDiez (10) lotes consecutivos sin rechazo

ISO 2859-1

Proceso



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Posicional

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AEN/CTN 148


ISO 2859-1

Proceso


AEN/CTN 148


Cdigos de tamao de muestra segn la MIL STD 105D

Niveles de inspeccin especiales Niveles generales de inspeccin

TAMAO LOTE S1 S2 S3 S4 I II III

29

16265191

151281501

12013201

1000135001

150001ms de

815255090

150280500

12003200

1000035000

150000500000500001

AAAABBBBCCCCDDD

AAABBBCCCDDDEEE

AABBCCDDEEFFGGE

AABCCDEEFGGHJJJ

AABCCDEFGHJKLMN

ABCDEFGHJKLMNPQ

BCDEFGHJKLMNPQR

ISO 2859-1

Proceso



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Posicional

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ISO 2859-1

Proceso


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ISO 2859-1

Proceso



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Posicional

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ISO 2859-1

Proceso


AEN/CTN 148


Cdigos de tamao de muestra segn la MIL STD 105D

Niveles de inspeccin especiales Niveles generales deinspeccin

TAMAO LOTE S1 S2 S3 S4 I II III

29

16265191

151281501

12013201

1000135001

150001ms de

815255090

150280500

12003200

1000035000

150000500000500001

AAAABBBBCCCCDDD

AAABBBCCCDDDEEE

AABBCCDDEEFFGGE

AABCCDEEFGGHJJJ

AABCCDEFGHJKLMN

ABCDEFGHJKLMNPQ

BCDEFGHJKLMNPQR

Ejemplo: Lote de 500 udd, Nivel de inspeccinnormal, NCA del 1%

ISO 2859-1

Proceso



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Posicional

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AEN/CTN 148


ISO 2859-1

Ejemplo (atributos)


AEN/CTN 148


ISO 2859-1



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Posicional

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ISO 2859-1

Trabajando con posicin Modelo Acoplado


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knkn

mck k

nnBFmcFP

)1()],(|[

1

][ TolEPi

ISO 2859-1

Trabajando con posicin



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Posicional

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AEN/CTN 148


ISO 2859-1



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Puntos 1D

LIDAR Altimetra (Dewberry, 2004)

Puntos 2D

Planimet ra (FGDC, 1998)

Lneas 2D

D Hausdorff

Lneas 3D

D Hausdorff

Puntos 2D

Control or tofotos IGN(ES)

Modelos Base

ISO 2859-1




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Posicional

AEN/CTN 148

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ISO 2859-1

Ejemplo (posicin)


AEN/CTN 148


ISO 2859-1

Ejemplo (posicin)



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Posicional

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AEN/CTN 148


ISO 2859-1


AEN/CTN 148


El propsi to de esta norma es establecer unos planes de muestreo,

basados en la CL, y procedimientos para la inspeccin por atributos

compat ib le con la norma 2859-1, tal que pueden aplicarse cuando

dicha norma no es aplicable, cosa que ocurre cuando:

La produccin es intermitente (no es continua).

La produccin procede de diferentes fuentes y en cantidadesvariables.

Las compras se realizan a almacenistas.

Los lotes son pequeos.

Los lotes son aislados.

ISO 2859-2

Introduccin



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Posicional

AEN/CTN 148

AEN/CTN 148


Define dos formas o procedimientos de aplicacin:

Cuando tanto el suministrador como el cliente desean considerar ellote como independiente (Procedimiento A): Para este caso la Norma

presenta un conjunto de tablas que se basan en el muestreo

aleatorio simple de lotes finitos para unos riesgos dados del

consumidor y productor.

Cuando el productor considera su produccin como continua pero elcliente la considera de manera aislada (Procedimiento B).

Se usar la pr imera opc in salvo que se indique expl c itamente lo

contrar io . Como es lgico pensar la segunda opcin es mucho ms

cercana a la ISO 2849-1. En este curso no se va a t rabajar con el

procedimiento B !!!.

ISO 2859-2


Proceso

AEN/CTN 148


Otra diferencia fundamental con la norma ISO 2859-1 es que mientras

que el NCA proporciona una gua para el productor, y de paso al

cliente, acerca del nivel de calidad que necesita para que su

produccin sea aceptada, la CL no suele proporcionar una gua

fiable para el consumidor acerca de la verdadera cal idad de los lotes

aceptados. Esto obl iga a que la cal idad l mite sea elegida de forma

realista, siendo como mnimo tres veces la calidad deseada.

Otra diferencia radica en el nivel de inspeccin. En el caso de ISO

2859-1 el incremento del tamao de la muestra se corresponde con

una mayor proteccin para el consumidor, pero en este caso la

proteccin se mantiene aproximadamente constante. Aqu el efecto

de incrementar su tamao es para permitir al suministrador una

mayor amplitud en la medida del proceso.

ISO 2859-2


Proceso


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Posicional

AEN/CTN 148

AEN/CTN 148


Procedimiento A

Se uti liza la Tabla A de la norma. El p lan de muestreo se identi fica por

el tamao del lote (N) y la calidad lmite (CL). De esta forma, la Tabla

A devuelve el tamao de muestra (n) y el nmero de aceptacin (Ac ).

Para obtener una indicacin de la probabilidad de aceptacin/rechazo

se han de uti lizar las Tablas D1 (rechazo o riesgo del productor) y D2

(aceptacin).

La norma contempla la posibilidad de aplicar mues treos dobles ymltiples, para lo que se uti lizarn las Tablas D3 y D4 de la norma.

ISO 2859-2


Proceso

AEN/CTN 148


ISO 2859-2


Proceso


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ISO 2859-2


Proceso

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ISO 2859-2

Ejemplo (atributos)



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ISO 2859-2

Ejemplo (posicin)


AEN/CTN 148


Proyecto de norma sobre evaluacin de la componente posicional los datos espaciales70

No requiere normalidad, todos los modelos se tratan por igual.

No se requiere un modelo subyacente.

Es un contraste estadstico.

Requiere menor tamao que la estimacin.

Ofrece los riesgos de usuario y de productor.

Aplicable a puntos, lneas y cualquier geometra.

Aplicable a cualquier dimensin de la misma forma.

Aplicable sobre cualquier mtrica.

La calidad posicional se expresa de una manera muy sencilla.

La calidad posicional se expresa en la misma forma que otros elementos de calidad dedatos espaciales.

El mismo marco de control es vlido para otros aspectos de la calidad (p.e, temtica,complecin, consistencia lgica), que es una circunstancia muy deseable a fin de facilitarel anlisis de la calidad, gestin y presentacin de informes de la calidad.

El mtodo se puede aplicar a diversos tipos de suministros (aislados, lote a lote, etc.).

Basado en normas internacionales muy conocidas y extendidas --> mismo lenguaje.

Posibilidad de la aplicacin de todas opciones que ofrece la serie de normas ISO 2859.

Pros y contras de su aplicacin Pros

ISO 2859


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Posicional

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Pros y contras de su aplicacin

Cambio notable de paradigma.

Resistencia al cambio.

ISO 2859

Contras

AEN/CTN 148


PublicacionesAriza Lpez, F.J. (2006). Control posicional en cartografa: seleccin comentada de referencias. Trilegend SolucionesAvanzadas. ISBN: 978-84-935853-0-3.

Ariza Lpez, F.J., Atkinson Gordo, A.D.; Nero, M.; Pimentel Cintra, J. (2007). La componente posicional de los datosgeogrficos: anlisis crtico de los mtodos de evaluacin y reporte en Hispanoamrica. Revista Cartogrfica (IPGH).N 83, pp: 95-152.

Ariza Lpez, F.J.; Atkinson Gordo, A.D.; Rodrguez Avi, J. (2008). Acceptance curves for the positional control ofgeographic data bases. Surveying Engineering (ASCE), 134(1), pp: 26-32

Ariza Lpez, F.J.; Atkinson Gordo, A.D. (2008). Analysis Of Some Positional Accuracy Assessment Methodologies.Surveying Engineering (ASCE), 134(2), pp: 45-54.

Ariza Lpez, F.J.; Atkinson Gordo, A.D. (2008). Variability of nssda estimations. Surveying Engineering (ASCE), 134(2),pp: 39-44.

Ariza Lpez, F.J.; Atkinson Gordo, A.D., Garca Balboa, J.L.,Rodriguez Avi, J. (2010). Analysis of the behavior of theAccuracy Standards for Large Scale Maps (ASPRS). Photogrammetric Engineering & Remote Sensing (ASPRS), 76(5), pp:625-632.

3er Premio 2011 John I. Davidson President's Award for Practical Papers (ASPRS)



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Posicional

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AEN/CTN 148


PublicacionesMozas-calvache, A.T., Ariza Lpez, F.J. (2010). Methodology for Positional Quality Control in Cartography Using LinearFeatures. The Cartographic Journal. 47(4): 371-378.

Ariza Lpez, F.J., Mozas-calvache, A.T., Urea-cmara, M.A., Alba-fernndez, V. Garca-balboa, J.L., Rodrguez-avi, J., Ruiz-lendnez, J.J. (2011). Influence of sample size on line-based positional assessment methods for road data . ISPRS Journal ofPhotogrammetry and Remote Sensing. 66(5): 708-719.

Mozas, A.T., Ariza Lpez, F.J. (2011). New method for positional quality control in cartography based on lines. A comparativestudy of methodologies. International Journal of Geographical Information Science. 25(10): 1681-1695. DOI:10.1080/13658816.2010.545063

Ariza Lpez, F.J., RODRGUEZ-AVI, J. (2014). A stat isti cal mo del in spir ed by t he Natio nal Map Ac curac y Stan dard .Photogrammetric Engineering and Remote Sensi ng 80 (3):271-281. DOI:10.14358/PERS.80.3.271.

Ariza Lpez, F.J., Rodrguez-avi, J (2014).A meth od o f po siti onal q uali ty co ntro l test ing for 2D and 3D line st ring s. Transactionsin GIS.

Ariza Lpez, F.J., Rodrguez-Avi, J. (2014). Un mtodo estadstico general para el control posicional de datos espaciales ,Geofocus.

Ariza Lpez, F.J., Rodrguez-Avi, J. (2014).A stat isti cal mo del fo r po siti onal quali ty co ntro l of s patial data. Spatial Accuracy

Ariza Lpez, F.J., Rodrguez-Avi, J. (2014). Simulation for estimating the probability of positional errors greater than atolerance in a mixture of parametric models . Spatial Accuracy

Ariza Lpez, F.J., Rodrguez-Avi, J. (2014).Aplic acin de las n ormas iso 2859-1 e is o 2859-2 en el co ntr ol p osic ion al desuministros de datos espaciales, aplicacin al caso de puntos y lneas . Pendiente de aceptacin.

Ariza Lpez, F.J., Rodrguez-Avi, J. (2014). Using International Standards to Control Positional Quality of Spatial Data. .Pendiente de aceptacin.


AEN/CTN 148



La propuesta

Con ISO 19157:

metacalidad

mbito

Uso de ISO 2859

Con ISO 3534-1:

Terminologa relativa a la exactitud (veracidad y precisin)

Al ineamientos

No condicionada por modelos subyacentes

Universalidad

Simpleza

Compatible con otros controles de CDE

Objetivos


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La propuesta

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La propuesta


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La propuesta

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La propuesta


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La propuesta

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La propuesta


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La propuesta

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La propuesta


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La propuesta

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La propuesta


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La propuesta

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La propuesta


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La propuesta

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La propuesta


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La propuesta

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La propuesta

Anexo A


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La propuesta

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La propuesta


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La propuesta

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La propuesta

Anexo B

Sin acabar

Compromiso del IGN en desarrollarlo


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ConclusionesConclusiones

Para la parte estadstica se ha propuesto el uso de unametodologa normalizada (ISO 2859-1 y 2) y muy extendida.

Este mtodo es vlido con independencia del modeloestadstico que sigan los errores universal

La est alineada con norma ISO 19157 e incorpora susaspectos novedosos.

Se pretende informar en detalle de la evaluacin.

Se dispone de un marco homogneo para controlar la calidad

de las distintas componentes de los datos espaciales.

Asociacin Espaola de Normalizacin

Comit Tcnico Normalizacin 148

Informacin Geogrfica AEN/CTN 148

Proyecto de norma

sobre control de lacomponenteposicional de losdatos espaciales

Presentacin del proyecto de normaUNE 148002

Madrid

29 Septiembre, 2014

Presentacion Norma UNE 148002

Documents

Transcript of Presentacion Norma UNE 148002